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ICP質量分析装置 (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer)

メーカー名
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
型番
Agilent7700s
設備画像
ICP質量分析装置
設置機関
京都大学
仕様・特徴
Arプラズマでイオン化させたサンプルを四重極質量分析計で測定することで高感度元素分析を実現。
・感度(Mcps/ppm):50@Li(7)、160@Y(89)、80@Tl(205)
・半導体アプリケーション専用設計

球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2200FS
設備画像
球面収差補正透過電子顕微鏡
設置機関
京都大学
仕様・特徴
結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧:200kV
・電子銃:ショットキー型
・TEM分解能:0.2nm
・エネルギー分解能:0.8eV
・分析機能:EELS

モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F
設備画像
モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡
設置機関
京都大学
仕様・特徴
照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。
・加速電圧:200kV、60kV
・電子銃:ショットキー型
・TEM分解能:0.1nm
・STEM分解能:0.08nm
・エネルギー分解能:0.03eV
・分析機能:EELS、EDS

マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)

メーカー名
日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
型番
Zeiss-ULTRA55 + SII-TES
設備画像
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置
設置機関
九州大学
仕様・特徴
超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析

電子状態測定システム (X-ray photoelectron spectrometer)

メーカー名
島津製作所 ( Shimazu )
型番
AXIS-ULTRA
設備画像
電子状態測定システム
設置機関
九州大学
仕様・特徴
・測定範囲10~1500 eVを25meV以下のステップ、
・分析面積15μmφ~
・Mg/AlデュアルX線源、出力~450W
・イオンポンプ、真空到達度10-10 Pa
・Arエッチング可能、
・予備室内での加熱処理対応、
・大面積試料バーで複数試料の同時マウントが可能
・元素マッピング可能

動的二次イオン質量分析測定装置 (Aecondary ion mass spectrometer)

メーカー名
Analysetechnik  (Analysetechnik )
型番
ATOMIKA SIMS 4000 四重極型
設備画像
動的二次イオン質量分析測定装置
設置機関
九州大学
仕様・特徴
・質量分析計:四重極型
・一次イオンビームソース:酸素とアルゴン
・加速電圧:3 k - 15 kV
・測定面積:250 μm - 1000 μm
・深さ分解能:7 - 8 nm

表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system)

メーカー名
東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments )
型番
Spectra-Physics
設備画像
表面・界面分子振動解析装置
設置機関
九州大学
仕様・特徴
・検出器:STREAK SCOPE C4334(浜松ホトニクス)/検出器:光電子増倍管(浜松ホトニクス)ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅:1.5 ps、励起波長:400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲:1500~4000 cm-1

レーザラマン分光光度計装置群 (Laser Raman Microscope system)

メーカー名
ナノフォトン日本分光カイザーオプティカルシステムズ (Nanophoton JASCOKaiser Optical Systems)
型番
Raman-touchNRS-3100KKRAMAN RXN Systems
設備画像
レーザラマン分光光度計装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【高速レーザーラマン顕微鏡:Raman-touch】
・倒立顕微鏡ベースの光学系。InGaAs検出器での近赤外発光同視野測定を実現。
・励起レーザー4本搭載(488nm、532nm、671nm、785nm)
・回折限界に迫る350nmの空間分解能
・ラインスキャンによる超高速イメージング
・100 cm-1から測定可能
・z方向1ミクロンの高い空間分解能
・スペクトル分解能(FWHM)=1.2cm-1 (@785nm、1200gr/mm)
【レーザラマン分光光度計:NRS-3100KK】
・時間変化,偏光測定対応
・波長範囲:50~8,000 cm-1
・分解能:1 cm-1
・励起レーザー波長:532 nm, 785 nm
【RAMAN RXN Systems】
・HoloPlexTM透過型グレーティング、ノッチフィルター使用F値:1.8
・搭載レーザー 785nm/400mW 検出器 電子冷却CCD検出器
・測定波長範囲 100~3450cm-1 分解 4cm-1

紫外可視近赤外分光測定装置装置群  (UV-Vis-NIR spectrometer)

メーカー名
島津製作所日本分光パーキンエルマー (ShimazuJASCOPerkinElmer)
型番
SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400
設備画像
紫外可視近赤外分光測定装置装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【紫外可視近赤外分光測定装置:V-670】
・Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能、
・固体、液体サンプル測定可能、
・積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能
【UV-Vis-NIR分光光度計:SolidSpec-3700DUV】
・測定波長 165~3300 nm(但し積分球測定は175 nm~2600 nm) 分解能0.1nm、
・大型鏡面反射測定,積分球ユニット(固体測定),
・直接測光ユニット(液体測定)深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、
・温度制御セルチェンジャー対応可能(多量サンプル測定可能)、測定温度制御可能
【中赤外・遠赤外吸収測定装置:Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング】
・ラインスキャンによる高速IRイメージング。
・ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応
・プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。
・測定範囲7800~650 cm-1 、4500~680 cm-1でのATR測定
・赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm~

液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群 (Liquid chromatography System)

メーカー名
島津製作所Bruker日本分光大塚電子日本分析工業 ( Shimazu Bruker JASCOOtsuka Electronics Japan Analytical Industry)
型番
NexeraX2micrOTOF-QIIIJ-1500DLS-8000DLLC-908-C60
設備画像
液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【超高速HPLC分離・分子構造分析システム】
NexeraX2
・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
micrOTOF-QIII
・イオン化モード ESI,APCI 精密質量測定,MS/MS可。
CD(円二色性検出器):J-1500
・163~1600nm Wプリズムモノクロで迷光0.0003%以下。
・電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
DLS8000DL
・静的光散乱 重量平均分子量3×102~2×107
・動的光散乱による粒径測定1.4nm~7μm,レーザー He/Ne,Ar+
・絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
【分取HPLCシステムLC-908-C60】
・2H、4Hカラム装備
・分取HPLCシステム(グラムオーダーの分取が可能)
・大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
・1回のインジェクション量は10 mL
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