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"分光・表面分析"で検索した結果　　112件

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蛍光X線分析装置(XRF) (XRF)

メーカー名: リガク ()

型番: ZSX-400

設備画像

設置機関: 広島大学

仕様・特徴: 波長分散型XRF 金属などの組成分析

X線光電子分光装置(XPS) (X-ray photoelectron spectroscopy)

メーカー名: クレイトスアナリティカル ()

型番: ESCA-3400

設備画像

設置機関: 広島大学

仕様・特徴: エミッション電流：20 mA、accel HT：10 kV、測定範囲：1150～-10 eV
X線源：Mg Kα, 電子結合エネルギー走査範囲：1150 ～ -10 eV

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