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時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)

メーカー名
エルミテック (Elmitec)
型番
AC-PEEMIII
設備画像
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
空間分解能:4nm以下
時間分解能:10fs以下
LEEM機能

大気中紫外光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)

メーカー名
理研計器 (Riken Keiki)
型番
AC-3
設備画像
大気中紫外光電子分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
測定エネルギー:4.0eV-7.0eV

X線光電子分光装置 (XPS)

メーカー名
島津クレートス (Shimadzu/Kratos)
型番
AXIS- ULTRA DLD
設備画像
X線光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
測定可能元素 Li~U
X線源 Mg/Al 特性X線、AlKαモノクロメータX線
紫外光源:He放電管
最小プローブ 40μmφ
分析深さ 数nm
最大試料サイズ 100mm(X)×25mm(Y)×10mm(Z)
イメージング 空間分解能 3μm以下 元素像および化学状態像
深さ分析可能 エッチングイオン銃使用
傾斜分析可能 0~90°・紫外光分光分析(UPS)可能

大気中光電子分光装置 (PYS)

メーカー名
理研計器 (RIKEN KEIKI)
型番
AC-2
設備画像
大気中光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
大気中試料のイオン化エネルギー測定可能
検知範囲:3.4-6.2eV

正・逆光電子分光装置 (PYS+IPES)

メーカー名
テックサイエンス (TECH SCIENCE)
型番
PYS-200+IPES
設備画像
正・逆光電子分光装置
設置機関
北陸先端科学技術大学院大学(JAIST)
仕様・特徴
PYS-200
測定エネルギー:4-9 eV
分解能:20 meV
測定領域:2 mmφ

IPES
測定エネルギー:5-50 eV
分解能:0.3 eV
測定領域:1 mmφ

光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscopy)

メーカー名
アルバックファイ (Ulvac Phi)
型番
QuanteraⅡ
設備画像
光電子分光装置
設置機関
信州大学
仕様・特徴
ディユアルビーム方式帯電中和
絶縁物分析可能
分析領域:7.5μ~1.4mm

機能性材料バンド構造顕微分析システム (Functional material band structure microspectroscopy system)

メーカー名
Scienta Omicron (Scienta Omicron)
型番
DA30
設備画像
機能性材料バンド構造顕微分析システム
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
仕様・特徴
光電子分光装置(光電子分析器、真空紫外光源、試料冷却機構、真空チェンバー)
光電子分析器 エネルギー分解能1meV以下、
角度精度0.1度以下、空間分解能 10ミクロン以下
真空紫外光源 希ガス共鳴線(主として、21.218 eV, 40.814 eV)
試料冷却機能 温度範囲 8-300K
真空チェンバー 測定槽真空度7x10-9Pa以下

大気中光電子分光装置 (Photoemission Yield Spectroscopy in Air)

メーカー名
理研計器 (Riken Keiki)
型番
AC-3
設備画像
大気中光電子分光装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・エネルギー走査範囲:4.0~7.0eV
・繰り返し精度:0.02eV
・光量可変範囲:2~100nW
・照射スポットサイズ:2×5㎜
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