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"円二色性分光"で検索した結果 9件
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円二色性分散計 (Circular dichroism (CD))
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-725
- 設備画像
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 仕様・特徴
- ・光源：450Wキセノンランプ
・測定波長範囲：165～1100nm
・測定モード：スペクトル測定、時間変化測定
・スキャン方式：連続スキャン、ステップスキャン
・測定レンジ：0～5Abs
・試料室：恒温水循環により調温
キラリティー分光装置群 (Circular Dichroism Spectrometer)
- メーカー名
- JASCO社 (JASCO)
- 型番
- ECD J-702YS VCD FVS-6000 DRCD PCD-466
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ECD J-702Y（電子円二色性）
器：ヘッドオン型光電子倍増管
・測定波長範囲：163～900nm（標準検出器）
・CD分解能：0.0005mdeg（±10mdeg）, 0.01mdeg（±200mdeg）, 0.1mdeg（±2000mdeg）
・ペルチェ式温度コントローラ装備
・クライオスタット装備
VCD FVS-6000（振動円二色性）
・測定波数範囲：3200～850 cm-1 (PV-MCT)
・測定波数範囲：4000～2000 cm-1 (InSb)
・分解：0.5, 1, 2, 4, 8, 16cm-1
・光学系：シングルビーム
・干渉計：28°入射マイケルソン干渉計
・光源：高輝度セラミック光源
・検出器：PV-MCT, InSb
DRCD PCD-466（拡散反射円二色性分光装置）
・光源：450W Xeランプ 水冷方式
・検出器：ヘッドオン型光電子倍増管・測定波長範囲：163～900nm（標準検出器）
・CD分解能：0.0005mdeg（±10mdeg）, 0.01mdeg（±200mdeg）, 0.1mdeg（±2000mdeg）
液体クロマトグラフィー・分子構造分析装置群 (Liquid chromatography System)
- メーカー名
- 島津製作所Bruker日本分光大塚電子日本分析工業 ( Shimazu Bruker JASCOOtsuka Electronics Japan Analytical Industry)
- 型番
- NexeraX2micrOTOF-QIIIJ-1500DLS-8000DLLC-908-C60
- 設備画像
- 設置機関
- 九州大学
- 仕様・特徴
- 【超高速HPLC分離・分子構造分析システム】
NexeraX2
・130MPaの高耐圧化した超高速HPLC。PDA検出器装備
micrOTOF-QIII
・ｲｵﾝ化ﾓｰﾄﾞ ESI，APCI 精密質量測定，MS/MS可。
ＣＤ（円二色性検出器）：J-1500
・163～1600nm Wﾌﾟﾘｽﾞﾑﾓﾉｸﾛで迷光0.0003%以下。
・電気化学フローセルに接続した電気化学計測検出器。
DLS8000DL
・静的光散乱 重量平均分子量3×102～2×107。
・動的光散乱による粒径測定1.4nm～7μm，レーザー He/Ne，Ar+
・絶対分子量測定可能な多角度静的光散乱検出器
【分取HPLCシステムLC-908-C60】
・２H、４Hカラム装備
・分取HPLCシステム（グラムオーダーの分取が可能）
・大型のカラム接続によるサンプルの大量分取が可能
・１回のインジェクション量は10 mL
円二色性分散計 （CD) (Circular dichroism spectrometer)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-820
- 設備画像
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 仕様・特徴
- ・CD/蛍光同時測定
・測定波長範囲：163~1,100 nm
・CD分解能：0.0005 mdeg
・ペルチェ式恒温セルホルダ付
円二色性分計 (Circular dichroism meter)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO Corporation)
- 型番
- J-720W
- 設備画像
- 設置機関
- 電気通信大学
- 仕様・特徴
- 各種溶液（光路長1mmと10mmのセル），固体物質の場合はペレット状に加圧整形しても測定可能
MCD（磁気円二色性）測定用の永久磁石を付属
ペルチェ冷却式温度制御装置を設置可能
X線磁気円二色性分光 (X-ray magnetic circular dichroic spectroscopy)
- メーカー名
- JANIS (JANIS)
- 型番
- 7THM-SOM-UHV
- 設備画像
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 仕様・特徴
- UVSOR-III BL4B (100-1000eV円偏光)
超伝導磁石はJANIS社製7THM-SOM-UHV (±7T, 5K)、
試料作製槽 LEED/AES, 蒸着などを装備
円二色性分散 (Circular Dichroism (CD) spectrometer)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-1500
- 設備画像
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 仕様・特徴
- 163〜1600 nm
軟X線磁気円二色性測定装置 (Soft X-ray magnetic circular dichroism apparatus)
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 設備画像
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 仕様・特徴
- 強磁性体などの特定元素の磁気モーメントを検出可能
・光エネルギー：390～2000 eV
・印可可能磁場:±10テスラ
・磁場掃引速度：1テスラ/分
・測定試料温度：6K～室温
・磁気モーメントの測定下限：10-3ボーア磁子/原子
・左右円偏光連続高速反転（1Hz）によりS/N比の高いデータ取得可能
円二色性分散計 (Circular Dichroism Spectrometer)
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-820
- 設備画像
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 仕様・特徴
- ・測定可能領域：163～1100nm
"円二色性分光"で検索した結果 9件