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誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型) (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer (ICP-OES))

メーカー名
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies Japan, Ltd.)
型番
720 ICP-OES
設備画像
誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型)
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
1.多波長同時測定による高速測定(世界最速)
2.軸方向測光で、多波長同時マルチキャリブレーション機能により低濃度溶液から高濃度溶液を希釈なしで測定可能
3.元素の検出下限濃度ppbレベル

誘導結合プラズマ発光分光分析装置  (ICP Atomic Emission Spectrometer)

メーカー名
島津製作所 (Shimazu)
型番
ICPE-9000
設備画像
誘導結合プラズマ発光分光分析装置
設置機関
東北大学
仕様・特徴
・プラズマ光源:軸・横方向観測、ミニプラズマトーチ
・高周波電源:水晶発振器、最大出力;1.6 kW、半導体高周波回折素子
・光学器:エシェル分光器、波長範囲:167~800 nm、半導体検出器、分解能;0.005 nm(@200 nm)

ICP質量分析装置 (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer)

メーカー名
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
型番
Agilent7700s
設備画像
ICP質量分析装置
設置機関
京都大学
仕様・特徴
Arプラズマでイオン化させたサンプルを四重極質量分析計で測定することで高感度元素分析を実現。
・感度(Mcps/ppm):50@Li(7)、160@Y(89)、80@Tl(205)
・半導体アプリケーション専用設計
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