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分光光度計 (Spectrophotometer)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
U-2900
設備画像
分光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・光学系:ダブルビーム
・波長範囲:190~1100nm
・スペクトルバンド幅:1.5nm

分光エリプソメータ (M-2000DI-T)

メーカー名
ジェー・エー・ウーラム・ジャパン (J.A.Woollam)
型番
M-2000U
設備画像
分光エリプソメータ
設置機関
東京大学
仕様・特徴
□ 主な仕様
・測定波長:193~1690nm
・チャンネル数:690同時計測
・回転補償子型

吸収分光光度計 (UV-VIS Spectrophotometer)

メーカー名
Shimadzu社 (Shimadzu)
型番
UV-1800
設備画像
吸収分光光度計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・190 nm~1100 nmまでの分光分析が可能
・1 cmセル
・吸光度:-4~4 Absで測定可能

真空紫外吸収分光計 (Ultraviolet absorption spectroscopy )

メーカー名
NUシステム (NU System)
型番
特注
設備画像
真空紫外吸収分光計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・プラズマ診断用
・真空チャンバー壁面に設置
・H,O,N,Cラジカル密度計測可

紫外可視近赤外分光測定装置装置群  (UV-Vis-NIR spectrometer)

メーカー名
島津製作所日本分光パーキンエルマー (ShimazuJASCOPerkinElmer)
型番
SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400
設備画像
紫外可視近赤外分光測定装置装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【紫外可視近赤外分光測定装置:V-670】
・Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能、
・固体、液体サンプル測定可能、
・積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能
【UV-Vis-NIR分光光度計:SolidSpec-3700DUV】
・測定波長 165~3300 nm(但し積分球測定は175 nm~2600 nm) 分解能0.1nm、
・大型鏡面反射測定,積分球ユニット(固体測定),
・直接測光ユニット(液体測定)深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、
・温度制御セルチェンジャー対応可能(多量サンプル測定可能)、測定温度制御可能
【中赤外・遠赤外吸収測定装置:Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング】
・ラインスキャンによる高速IRイメージング。
・ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応
・プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。
・測定範囲7800~650 cm-1 、4500~680 cm-1でのATR測定
・赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm~

顕微紫外可視近赤外分光装置 (UV/Vis/NIR Microscopic Spectrophotometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
MSV-5200
設備画像
顕微紫外可視近赤外分光装置
設置機関
北海道大学
仕様・特徴
反射、透過測定
光電子増倍管、冷却型PbS光導電素子
測定波長域:200nm-2700nm
カセグレン対物32倍
自動XYZステージ

紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR Spectrometer)

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
V-670DS
設備画像
紫外可視近赤外分光光度計
設置機関
公立千歳科学技術大学
仕様・特徴
・測定範囲: 190~3,200 nm

分光エリプソメータ (Ellipsometer)

メーカー名
堀場製作所 (Horiba)
型番
UVISEL Plus
設備画像
分光エリプソメータ
設置機関
筑波大学
仕様・特徴
PEMを利用した位相変調方式により、外光の影響を受けにくい分光エリプソメーター

測定波長:190~2100 nm(波長分解能力:2 nm)
スポットサイズ:0.05, 0.1, 1mmφ(垂直入射時)を選択

可視-近赤外過渡吸収分光装置 (VITA) (Visible/Near-Infrared Transient Absorption Spectrometer (VITA))

メーカー名
(1) ナノ秒可視・近赤外蛍光寿命計測装置:産総研自主開発、(2) ナノ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置:産総研自主開発、(3) ピコ秒可視蛍光寿命計測装置:産総研自主開発、(4) ピコ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置:産総研自主開発 ((1) Nanosecond Visible/Near-Infrared Fluorescence Spectrometer:AIST Original, (2) Nanosecond Visible/Near-Infrared Transient Absorption Spectrometer:AIST Original, (3) Picosecond Visible/Near-Infrared Fluorescence Spectrometer:AIST Original, (4) Picosecond Visible/Near-Infrared Transient Absorption Spectrometer:AIST Original)
型番
設備画像
可視-近赤外過渡吸収分光装置 (VITA)
設置機関
産業技術総合研究所(AIST)
仕様・特徴
(1) ナノ秒可視・近赤外蛍光寿命計測装置
液体、溶液、結晶、フィルムなどの蛍光スペクトルと蛍光寿命を測定する装置。
励起光源にレーザーダイオードやピコ秒のNd:YAGレーザーを用いており、非常に簡便に計測ができる。
寿命測定は時間相関単一光子計数法または高速オシロスコープによる直接法を用いており、弱い励起条件での計測が可能であるとともに、8桁程度の信号ダイナミックレンジのデータが取得できる。
・時間分解能:約200 ps
・励起波長:278, 342, 355, 408, 455, 532, 560, 637 nm
・測定波長範囲:350 nm~1600 nm
・測定雰囲気:-270 ℃~室温~+100 ℃

(2) ナノ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置
液体、溶液、結晶、フィルムなどの過渡吸収スペクトルと減衰挙動を測定する装置。
励起光源に波長可変のTi:Sapphireレーザーを用いており、様々な測定対象に対応可能。
従来装置と比べて測定感度が高いことが特徴であり、吸光度変化として<0.001の計測が可能。
・時間分解能: 1 ns程度
・励起光: 100 fsパルス、波長240~2400 nm
・測定波長範囲: 400 nm~6000 nm
・測定雰囲気: 室温大気中(特殊環境は要相談)

(3) ピコ秒可視蛍光寿命計測装置
この装置は、40 psの時間分解能、時間レンジ1 ~ 100 ns、400 ~ 900 nmの観測波長領域を有する、時間分解蛍光スペクトル測定装置。
固体中励起子寿命、励起子拡散長、色素分子蛍光寿命の評価が可能。
・形式: C4334-01
・励起光:100 fsパルス、波長240~800 nm
・測定雰囲気: 室温大気中(特殊環境は要相談)
・時間分解能:40 psの時間分解能時間 レンジ1~100 ns、400~900 nm

(4) ピコ秒可視・近赤外過渡吸収分光装置
200 fsの時間分解能、240 ~ 11000 nmの観測波長領域、<0.001の吸収測定精度を有する過渡吸収分光装置。
固体中キャリア寿命、界面電荷分離反応の速度・収率、励起子拡散長を評価。
・測定モード:透過・正反射・拡散反射型ポンプ-ブローブ法
・励起光:100~150 fsパルス、波長240~2400 nm
・測定雰囲気:室温大気中(特殊環境は要相談)
・時間分解能:200 fsの時間分解能、240~11000 nm

高性能分光エリプソメータ (Spectroscopic Ellipsometry)

メーカー名
株式会社堀場製作所 (HORIBA, Ltd.)
型番
UVISEL ER AGMS iHR320
設備画像
高性能分光エリプソメータ
設置機関
早稲田大学
仕様・特徴
波長範囲:190-2100nm
150mmウェハ対応、XY軸はマニュアルステージ
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