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ラマン顕微鏡 (Raman microscope)

メーカー名
レニショー (Renishaw)
型番
inVia Reflex
設備画像
ラマン顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ラインレーザー照射による高速ラマンイメージング。
・繋ぎ目のない連続した広い波数範囲のスペクトル測定。
・共焦点機構による高い空間分解能。
・レーザー波長:532nm及び785nm
・波数分解能:0.3cm-1
・空間分解能:水平0.25µm、垂直1µm
・対物レンズ:5倍、20倍、50倍、63倍(水浸)、100倍
・温度制御:-196~600℃

プレートリーダー (Plate reader)

メーカー名
パーキンエルマー (PerkinElmer)
型番
EnSight
設備画像
プレートリーダー
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・モノクロメーターによる任意波長の測定が可能。
・多様な測定モード(吸光/蛍光/発光/時間分解蛍光)。
・温度調節機能やプレート撹拌機能を搭載。
・光源:UVキセノンフラッシュランプ
・検出器(吸光):フォトダイオード(230-1000nm)
・検出器(蛍光):光電子増倍管(230-850nm)
・波長選択:モノクロメーター
・プレートフォーマット:6ウェル、12ウェル、24ウェル、48ウェル、96ウェル、384ウェル

分光光度計 (Spectrophotometer)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
U-2900
設備画像
分光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・光学系:ダブルビーム
・波長範囲:190~1100nm
・スペクトルバンド幅:1.5nm

分光蛍光光度計 (Fluorescence spectrophotometer)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
F-7000
設備画像
分光蛍光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・感度:水のラマン光S/N800以上(RMS)、S/N250以上(Peak to peak)
・光源:150W Xeランプ
・測定波長範囲:200~750nm
・波長走査速度:30~60,000nm/min

フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)

メーカー名
島津製作所 (Shimadzu)
型番
IRTracer-100
設備画像
フーリエ変換赤外分光光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・光源:高輝度セラミックス光源
・検出器:温調付きDLATGS、液体窒素冷却型MCT
・スペクトル範囲:7,800~350cm-1
・分解能:最大0.25cm-1
・SN比 最大60000:1
・測定用付属品:拡散反射、多重反射ATR、一回反射ATR

円二色性分散計 (Circular dichroism (CD))

メーカー名
日本分光 (JASCO)
型番
J-725
設備画像
円二色性分散計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・光源:450Wキセノンランプ
・測定波長範囲:165~1100nm
・測定モード:スペクトル測定、時間変化測定
・スキャン方式:連続スキャン、ステップスキャン
・測定レンジ:0~5Abs
・試料室:恒温水循環により調温

走査型デュアルX線光電子分光分析装置 (HAX-PES/XPS) (Dual Scanning X-ray Photoelectron Microprobe Equipped with Hard X-Ray (HAX-PES/XPS))

メーカー名
アルバック・ファイ(株) (ULVAC-PHI)
型番
Quantes
設備画像
走査型デュアルX線光電子分光分析装置 (HAX-PES/XPS)
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・軟 X 線 (Al Ka) と硬 X 線 (Cr Ka) の2つの X 線源を有し、前者で試料最表面、後者で試料内部・界面の電子状態の観測が可能。
・電圧印可下での電子状態変化の観測が可能。
・温度制御範囲:90~870 K。

誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型) (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometer (ICP-OES))

メーカー名
アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies Japan, Ltd.)
型番
720 ICP-OES
設備画像
誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型)
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
1.多波長同時測定による高速測定(世界最速)
2.軸方向測光で、多波長同時マルチキャリブレーション機能により低濃度溶液から高濃度溶液を希釈なしで測定可能
3.元素の検出下限濃度ppbレベル

電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JXA-8500F
設備画像
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・電界放出形電子銃
・加速電圧:1~30 kV
・照射電流:10 pA ~500 nA
・測定可能元素:Be~U
・最大試料サイズ:100 x 100 x 20 mm

走査型オージェ電子分光分析装置 (Scanning Auger Electron Microprobe (CHA Type AES))

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JAMP-9500F
設備画像
走査型オージェ電子分光分析装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能:<8 nm
・加速電圧:0.5~30 kV
・照射電流:0.1~100 nA
・測定元素:Li~U
・最大試料サイズ:14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
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