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多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS) (X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS))
- 設備ID
- BA-026
- 設置機関
- 筑波大学
- 設備画像

- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI VersaProbe 4
- 仕様・特徴
- Al Kα モノクロX線源(Ag 3d5/2 半値幅:0.50 eV)
アルゴンガスクラスターイオン銃(Ar-GCIB)
真空紫外線光源(UPS)
低エネルギー逆光電子分光法(LEIPS)
反射電子エネルギー損失分光法(REELS)
- 設備状況
- 稼働中
10kV計測システム (10kV Measurement System)
- 設備ID
- BA-027
- 設置機関
- 筑波大学
- 設備画像

- メーカー名
- アポロウエーブ/テクトロニクス・ケースレーインスツルメンツ (Apollowave/Tektronics-Keithley)
- 型番
- α150PW/2290-10, 2636B
- 仕様・特徴
- 最大10kVの電圧印加によるリーク電流、耐圧測定
200V,1Aの汎用IV測定(SMU:4ch)
4端子デバイス測定
高温ステージ(最高300℃)のマニュアルプローバ(最大φ4インチ。5㎜□、φ2インチの吸着可)
- 設備状況
- 稼働中
紫外可視近赤外分光光度計 (UV-Vis-NIR Spectrometer)
- 設備ID
- CT-001
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- V-670DS
- 仕様・特徴
- ・測定範囲: 190~3,200 nm
- 設備状況
- 稼働中
フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡 (Fourier transform infrared spectrometer (FTIR)/Micro FTIR spectrometer)
- 設備ID
- CT-002
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FT/IR-6600IRT-5200
- 仕様・特徴
- FT/IR-6600, IRT-5200
・測定範囲: 7,800~350 cm-1
IRT-5200
・分解能:2 cm-1
- 設備状況
- 稼働中
ラマンイメージング (Raman imaging microscope)
- 設備ID
- CT-003
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia
- 仕様・特徴
- ・レーザー波長:325 nm、532 nm、785 nm
・二次元・三次元マッピング機能(0.1 μm位置再現性)
・波数域:100~4,000 cm-1
・温度調節ステージ
- 設備状況
- 稼働中
顕微ラマン分光 (Raman microscope)
- 設備ID
- CT-004
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- フォトンデザイン (PHOTON Design)
- 型番
- RSM-310
- 仕様・特徴
- ・レーザー波長:1,064 nm
・マッピング機能あり
- 設備状況
- 稼働中
核磁気共鳴装置(NMR) (Nuclear magnetic resonance spectrometer (NMR))
- 設備ID
- CT-005
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- AVANCE NEO 400
- 仕様・特徴
- ・1H共鳴周波数:400 MHz
・二次元、固体(CP/MAS)
・多核(15N、19F、23Na、27Al、31P、77Se、113Cd、129Xe、195Pt 等)測定可能
- 設備状況
- 稼働中
円二色性分散計 (CD) (Circular dichroism spectrometer)
- 設備ID
- CT-006
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-820
- 仕様・特徴
- ・CD/蛍光同時測定
・測定波長範囲:163~1,100 nm
・CD分解能:0.0005 mdeg
・ペルチェ式恒温セルホルダ付
- 設備状況
- 稼働中
3D測定レーザ顕微鏡 (3D Measuring laser microscope)
- 設備ID
- CT-007
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様・特徴
- ・レーザ波長: 405 nm 半導体レーザ
・総合倍率: x 108~17,280
- 設備状況
- 稼働中
蛍光顕微鏡 (Fluorescence microscope)
- 設備ID
- CT-008
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像

- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- BX51DP73
- 仕様・特徴
- ・落射型
・位相差観察や微分干渉観察との同時併用観察が可能
- 設備状況
- 稼働中