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513層多層押出成形金型 (Mold for 513-layer coextrusion by layer multiplication)
- 設備ID
- YG-006
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- ノードソン (Nordson)
- 型番
- レイヤーマルチプライヤー513
- 仕様・特徴
- ・1台あるいは複数台の押出機から供給された溶融体を本金型により流路を分割・積層を繰り返し行う。最終的に本金型からTダイへ供給し、フィルム状に成形される。
- 設備状況
- 稼働中
力学試験機 (Universal Testing Machine)
- 設備ID
- YG-008
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東洋精機製作所㈱ (Toyoseiki)
- 型番
- T-D
- 仕様・特徴
- 引っ張り、曲げ試験などの力学物性評価を行う。
クロスヘッド速度 0.5～500mm/min、恒温槽：室温〜200℃
- 設備状況
- 稼働中
フィルム物性測定システム (Film physical properties measuring system)
- 設備ID
- YG-010
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- フォトニックラティス マイズ試験機 東洋精機製作所㈱ 日本電色工業 日本電色工業 キーエンス (Photonic Lattice MYS-TESTER Company Toyoseiki Nippon Denshoku Industries Nippon Denshoku Industries Keyence)
- 型番
- WPA-300 No51 D-32 SH7000 VG8000 VHX-970F
- 仕様・特徴
- フィルムの位相差分布（測定レンジ0～3500nm）を面情報として高速に観察する。分光ヘーズメーターユニットでは380nm～780nmの波長範囲を5nm間隔出力で測定。装置群により総合的に評価。
1.複屈折計測装置（WPA-300）：
ガラス基板、プラスチック成形品の内部ひずみ評価。位相差分布（測定レンジ0～3500nm）を面情報として高速に観察する。
2.アイゾッド/シャルピー衝撃試験機（No51）：
・アイゾット：JIS K7110、ISO 180、ASTM D256規格、シャルピー：JIS K7111、ISO 179、ASTM D256規格に応じた耐衝撃性評価
・高分子材料の耐衝撃性、もろさ、粘り強さなどの特性評価
3.エルメンドルフ・引裂試験機（D-32）：
0~32Nの荷重範囲でJIS P 8116、JIS K 7128-2、JIS L 1096、ISO 6383-2
規格に応じた引裂強さを評価
4.分光ヘーズメーター（SH7000）：
380～780 nmの波長範囲で各波長における全光線透過率・拡散透過率・曇り度度合いや光の拡散度合いを評価
5.光沢計（VG8000）：
フィルムの光沢を20°・45°・60°・75°・85°の5角度から測定
6.デジタルマイクロスコープ（VHX-970F）：
・深い被写界深度と高分解能性を有する4K CMOS光学系により表面形状を3次元で観察
・画素数 3840(H)2160(V)
- 設備状況
- 稼働中
高分子相構造解析システム (Polymer Phase Structure Analyzing system)
- 設備ID
- YG-011
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 エビデント ライカ (Otsuka Electronics Evident Leica)
- 型番
- PP-1000 BX53LED-33P-OC-D Multicut R
- 仕様・特徴
- 1. 小角散乱装置
小角光散乱により短時間でサブミクロン～数百ミクロンの高分子やフィルムの構造を評価できる。加熱冷却ステージ付で温度による構造変化をリアルタイム測定可能。
システムで総合的に評価。
・ポリマーブレンドの相分離過程
・ポリマーの結晶化過程
2.偏光観察用システム顕微鏡
無限遠補正UIS2光学系と偏光特性を考慮した光学系により偏光観察、レタデーション測定が可能。高解像度、高コントラストの画像提供
3. ミクロトーム
2段階のトリミング機能(50、10ミクロン)による素早い面出しと正確な試料送り機構による、正確な厚みの切片を作成可能。タングステンブレード、ダイヤモンドナイフを用いる。
- 設備状況
- 稼働中
全自動多目的X線回折装置 (SmartLab, X-ray diffractometer)
- 設備ID
- YG-601
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料にＸ線を照射した際、Ｘ線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析。結晶構造にX線を照射すると格子面でX線が反射され、それぞれが干渉し合い、回折線を発生させ、検出
・対象試料：無機・有機物質の粉末、高分子材料、タンパク質、金属部品、有機・無機薄膜半導体、エピタキシャル膜、コロイド粒子など
- 設備状況
- 稼働中
X線非破壊検査装置 (TXScanner, Micro-focus X-ray CT scanner)
- 設備ID
- YG-602
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東芝 I Tコントロールシステム (TOSHIBA IT & CONTROL SYSTEMS CORPORATION)
- 型番
- TXS-31300FD
- 仕様・特徴
- 高エネルギーから低エネルギーまでの全X線領域でコントラストが高く、ダイナミックレンジの広い透視画像とCT画像を得ることができる汎用性に優れたX線CTスキャナ。品質管理から精密解析まで様々な応用が可能
- 設備状況
- 稼働中