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"粒度分布測定(静的光散乱)"で検索した結果 1件
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ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー) (Zetasizer)
- 設備ID
- OS-123
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像

- メーカー名
- シスメックス株式会社(マルバーン) (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
- 型番
- NANO-ZS
- 仕様・特徴
- 【特徴】
動的散乱光法により溶液中に分散された粒子の粒子径や、ゼータ電位測定が可能な装置です。
低濃度または高濃度サンプルにも対応可能です。
(濃度0.1ppm~40%/Wでの測定が可能)
【仕様】
必要試料量:70μL
粒子径測定:0.6nm~6μm(動的光散乱法)
ゼータ電位測定:3nm~10μm
- 設備状況
- 稼働中
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