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"粒度分布測定(動的光散乱)"で検索した結果 9件
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ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Light Scattering Spectrophotometer)
- 設備ID
- KT-314
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- DLS-8000DH
- 仕様・特徴
- ・動的光散乱法
粒径分布、拡散係数分布を測定
・静的光散乱法
第二ビリアル係数・重量平均分子量・慣性半径の見積もり、重量平均分子量
・動的光散乱法:粒径分布、拡散係数分布測定
・静的光散乱法:第二ビリアル係数・重量平均分子量測定・慣性半径の見積もり
- 設備状況
- 稼働中
ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system)
- 設備ID
- KU-513
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- 【ゼータ電位/粒径測定システム:ELSZ-2】
・粒子径測定範囲(0.6-7000nm)
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲:粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲:0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能
- 設備状況
- 稼働中
動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)
- 設備ID
- NM-014
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- DLS-8000HAL
- 仕様・特徴
- ・粒径測定範囲:1.4nm~7µm
・重量平均分子量の測定範囲 :300~2×107 Mw
・光源:He-Neレーザー(632.8nm)、固体ブルーレーザー(488nm)
・検出器:光電子増倍管(フォトンカウンティング方式)
・セル:21φ円筒セル、12φ円筒セル、5φ微量セル
・セル室温度:5~90℃
・角度範囲:5 ~ 160°
- 設備状況
- 稼働中
粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)
- 設備ID
- NM-015
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像

- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- SALD-2100
- 仕様・特徴
- ・測定範囲:0.03µm~1000µm
・光源:680nm 半導体レーザー
・測定方式:湿式測定のみ(乾式測定不可)
- 設備状況
- 稼働中
ゼータ電位&粒径測定装置(ELSZ-2000ZS) (Zeta-potential/Particle-size analyzer (ELSZ-2000ZS))
- 設備ID
- NM-218
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2000ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径: 0.6 nm ~ 8 µm
・ゼータ電位: -200 ~ +200 mV
・試料濃度:0.00001~40%
・測定温度:0~90 ℃ (ガラスセル)、10~50 ℃ (ディスポセル)
- 設備状況
- 稼働中
ダイナミック光散乱光度計 (Dynamic Laser Scattering Spectrometer)
- 設備ID
- NR-303
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子 (Otsuka Electoronics)
- 型番
- DLS-6000
- 仕様・特徴
- ・角度可変
- 設備状況
- 稼働中
動的光散乱(DLS) (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))
- 設備ID
- NU-013
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像

- メーカー名
- Malvern社 (Malvern)
- 型番
- Zetasizer Nano ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径:0.6nm-6μm、ゼータ電位:5nm-10μm
・分子量:1000-2×107Da
・試料濃度:<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位:-200~200mV
・光学系:レーザードップラー法
- 設備状況
- 稼働中
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布) (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)
- 設備ID
- NU-020
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像

- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- ・測定濃度範囲 :0.001 % ~ 10 %
・ゼータ電位 :-200 ~ 200 mV
・電気移動度 :-20×10-4~20×10-4cm2/V・s
・粒子径 :0.6 nm ~ 7000 nm
・温度 :10~90 ℃
・測定可能サンプル:微粒子分散液
・平板試料用セル(オプション)を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系:レーザードップラー法
低誘電率セル購入済み
- 設備状況
- 稼働中
ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー) (Zetasizer)
- 設備ID
- OS-123
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像

- メーカー名
- シスメックス株式会社(マルバーン) (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
- 型番
- NANO-ZS
- 仕様・特徴
- 【特徴】
動的散乱光法により溶液中に分散された粒子の粒子径や、ゼータ電位測定が可能な装置です。
低濃度または高濃度サンプルにも対応可能です。
(濃度0.1ppm~40%/Wでの測定が可能)
【仕様】
必要試料量:70μL
粒子径測定:0.6nm~6μm(動的光散乱法)
ゼータ電位測定:3nm~10μm
- 設備状況
- 稼働中
"粒度分布測定(動的光散乱)"で検索した結果 9件