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共用設備検索結果
"走査型顕微鏡"で検索した結果 111件
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- 設備ID
- TU-314
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- S3700N
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～8インチ
ロードロックは4インチまで
EDX付、低真空モード付、光学画像ナビゲーション付
- 設備ID
- TU-315
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- S5000
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片専用
インレンズ式（磁性体導入不可）
- 設備ID
- TU-316
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-6335F
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～4インチ
EDX付
- 設備ID
- TU-318
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サンユー電子 (Sanyu)
- 型番
- SC-701MkII
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～2インチ
- 設備ID
- TU-319
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- パーク・システムズ (Park systems)
- 型番
- NX20
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～8インチ
- 設備ID
- TU-505
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU-8000
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 0.1 kV～30 kV FE電子銃
・二次電子像分解能 1.0/1.3 nm (15/1 kV)
・EDS分析、元素マッピング
- 設備ID
- TU-506
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- S-5500
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 0.1 kV～30 kV FE電子銃
・二次電子像分解能 0.4/1.3 nm (30/1 kV)
- 設備ID
- UT-101
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7500FA
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
ジェントルビーム機能を搭載し加速電圧1kVで1.4nmの高分解能
□ 主な仕様
・二次電子像分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV）
・倍率：×25～×1,000,000
・加速電圧：0.1kV～30kV
- 設備ID
- UT-102
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7800F Prime
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（1）本体
加速電圧：0.5～30 kV
0.5～2.9 kVは10 Vステップ
2.9～30 kVは100 Vステップ
二次電子分解能：1.0 nm（加速電圧15kV, 通常時）
1.5 nm（加速電圧1kV, 通常時）
0.7 nm（加速電圧15kV, GB時）
1.2 nm（加速電圧1kV, GB時）
0.7 nm（加速電圧1kV, GBSH時）
倍率：×25 ～ 1,000,000
プローブ電流：10-12 ～ 2×10-7 A
（2）エネルギー分散形X線分析装置（JEOL JED-2300F）
検出器：シリコンドリフト検出器
エネルギー分解能：129 eV
検出可能元素：Be ～ U
（3）カソードルミネッセンス測定装置（HORIBA MP-32S）
波長測定領域：185 nm ～ 900 nm（PMT）
200 nm ～ 1100 nm（CCD）
※ 光経路が空気中であるため、紫外領域の感度は低減される
（4）半導体反射電子検出器（RBEI）
（5）走査透過型電子検出器（STEM）
- 設備ID
- UT-103
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JSM-7000F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧：0.5～30kV 0.5～2.9kVは10Vステップ可変
2.9～30kVは100Vステップ可変
二次電子分解能：1.2nm（加速電圧30kV），3.0nm (加速電圧1kV）
倍率：×10（WD40）～500,000
プローブ電流：10-12～2×10-7A
（２）結晶方位測定装置（株式会社TSLソリューションズ）
ソフトウェアー OIM Ver7.3.1
（３）高感度反射電子検出器
（４）走査透過電子検出器(STEM)
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