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円二色性分散計 （CD) (Circular dichroism spectrometer)
- 設備ID
- CT-006
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- J-820
- 仕様・特徴
- ・CD/蛍光同時測定
・測定波長範囲：163~1,100 nm
・CD分解能：0.0005 mdeg
・ペルチェ式恒温セルホルダ付
- 設備状況
- 稼働中
3D測定レーザ顕微鏡 (3D Measuring laser microscope)
- 設備ID
- CT-007
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様・特徴
- ・レーザ波長: 405 nm 半導体レーザ
・総合倍率: x 108~17,280
- 設備状況
- 稼働中
蛍光顕微鏡 (Fluorescence microscope)
- 設備ID
- CT-008
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- BX51DP73
- 仕様・特徴
- ・落射型
・位相差観察や微分干渉観察との同時併用観察が可能
- 設備状況
- 稼働中
走査型プローブ顕微鏡 （SPM) (Scanning probe microscope (SPM))
- 設備ID
- CT-009
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- MultiMode 8J
- 仕様・特徴
- ・大気中、液中イメージングが可能
・ナノ機械特性（弾性率、吸着力）、ナノ電気特性（表面電位、導電性）の測定が可能
- 設備状況
- 稼働中
走査型電子顕微鏡（SEM） (Scanning electron microscope (SEM))
- 設備ID
- CT-010
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- TM4000Plus
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：5、10、15 ｋV
・倍率：10~100,000倍
・装備オプション：EDS、UVD、カメラナビゲーションシステム
- 設備状況
- 稼働中
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM） (Field emission scanning electron microscope (FE-SEM))
- 設備ID
- CT-011
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-7800F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：0.01~30 kV
・倍率： 25~1,000,000倍
・装備オプション：EDS、STEM、BED、USD、低真空システム
- 設備状況
- 稼働中
透過型電子顕微鏡（TEM） (Transmission electron microscope (TEM))
- 設備ID
- CT-012
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：120 kV
・冷却フォルダー（-120 ℃）
- 設備状況
- 稼働中
ミクロトーム/クライオミクロトーム (Microtome/Cryo-microtome)
- 設備ID
- CT-013
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ライカ マイクロシステムズ (Leica Microsystems)
- 型番
- ULTRACUT UCT
- 仕様・特徴
- ・クライオスタット付きのため凍結状態での薄切可能
- 設備状況
- 稼働中
断面試料作製装置（クロスセクションポリッシャ） (Specimen preparation equipment (CROSS SECTION POLISHER))
- 設備ID
- CT-014
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- IB-09010CP
- 仕様・特徴
- ・イオン加速電圧：2~6 kV
・イオンビーム径：500 μm
・ミリングスピード：100 μm/h
・最大搭載試料サイズ：11 mm(幅) x 10 mm(長さ) x 2 mm(厚さ)
・使用ガス：アルゴンガス
- 設備状況
- 稼働中
X線小角散乱装置（SAXS) (Small and wide angle X-ray scattering instrument (SAXS))
- 設備ID
- CT-016
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Nano-Viewer
- 仕様・特徴
- ・測定可能範囲：0.2~100 nm
- 設備状況
- 稼働中