共用設備検索結果
中分類から探す
表示件数
恒温チャンバー (Forced Convection Oven)
- 設備ID
- UT-810
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ヤマト科学株式会社 (Yamato Scientific Co., Ltd.)
- 型番
- DKN402
- 仕様・特徴
- 室温から+10～250℃までの温度を一定に保つ送風低温恒温器です。
【温度制御範囲】室温+10～250℃【温度調節精度】±1℃（at 210℃）JTM K05【温度分布精度】±2.5℃（at 210℃）JTM K05【最高温度到達時間】約90分【温度制御方式】P.I.D制御【タイマ】1分～99時間59分および100～999時間50分（タイマウエイト機能付）【運転機能】定値運転、プログラム運転、クイックオートストップ、オートスタート、オートストップ【プログラムモード】プログラム運転 30ステップ
- 設備状況
- 稼働中
超音波ホモジナイザー (Ultrasonic Homogenizer)
- 設備ID
- UT-811
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブランソン (Branson)
- 型番
- Sonifier SFX 250
- 仕様・特徴
- 超音波振動を利用して液体中にキャビテーションを発生させる多目的実験用装置です。ナノレベルでの均質化・乳化・反応促進・分散・混合・脱泡など広範囲の液体処理に利用できます。
出力：250W,、周波数：20kHz、処理量：0.1～500mｌ、発振方式： 連続発振又はパルス発振の選択、振幅制御範囲： 振幅10～100％、コントロールモード設定内容： 時間、エネルギー、温度。
- 設備状況
- 稼働中
機械特性評価装置 (MSA-500 Micro System Analyzer)
- 設備ID
- UT-851
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ポリテック (Polyltec)
- 型番
- MSA-500
- 仕様・特徴
- Polytec 振動解析装置
MEMS機構の振動解析を行う装置です。XY方向はストロボスコープ（1MHz）、Z方向はレーザードップラー振動計（1.5MHz）またはレーザ変位計（24MHz）にて測定可能です。
測定した結果をアニメーションにして表示できるので解析に最適です。
- 設備状況
- 稼働中
半導体パラメータアナライザー (Semiconductor Parameter Analyzer)
- 設備ID
- UT-852
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- キーサイト (KEYSIGHT)
- 型番
- B1500A
- 仕様・特徴
- キーサイト社製。IV測定、CV測定の他、最先端のデバイス評価で必要とされる高速パルスドIV測定まで、様々な測定に対応しており、各種デバイス、材料、半導体、能動部品／受動部品をはじめ、あらゆる電子デバイスの特性評価に最適です。
- 設備状況
- 稼働中
簡易電子顕微鏡 (Tabletop SEM)
- 設備ID
- UT-853
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- TM-3030Plus
- 仕様・特徴
- 卓上顕微鏡、EDX付
- 設備状況
- 稼働中
高精細電子顕微鏡 (Ultra-high Resolution Scanning Electron Microscope (SEM))
- 設備ID
- UT-855
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus 8230
- 仕様・特徴
- 分解能は1 kVで0.7 nm。最高倍率は200万倍の電界放出電子源を用いた高分解能走査型電子顕微鏡
- 設備状況
- 稼働中
12インチプローバー (12inch Prober)
- 設備ID
- UT-856
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- Cascade (Cascade)
- 型番
- Elite300
- 仕様・特徴
- シールドチャンバー付き
- 設備状況
- 稼働中
Elite300 附属電気特性測定装置 (Electronic measurement system attaced to Elite 300)
- 設備ID
- UT-857
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- Cascade (Cascade)
- 型番
- Elite 300
- 仕様・特徴
- B1500A,DS090804A,N6705B,81160A,3498-A,DSO-Xを含むラック。MicroChamber、AttoGuard、AttoGuard、および PureLine テクノロジーを備えた半自動プローブ ステーション プラットフォーム。
- 設備状況
- 稼働中
電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope (SEM))
- 設備ID
- UT-858
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子㈱ (JEOL)
- 型番
- JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250
- 仕様・特徴
- エネルギー分散型X線分析装置(元素分析装置)付きの走査電子顕微鏡です。
- 設備状況
- 稼働中
小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM))
- 設備ID
- UT-859
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- SPA400+SPI4000
- 仕様・特徴
- 日立ハイテクサイエンス(旧SII社製)AFM。試料サイズ：φ35mm厚み10mm、スキャナー走査範囲：150μm×150μm（高さ5μm）、20μm×20μm（高さ1.5μm）、AFMモード、DFMモード
- 設備状況
- 稼働中