共用設備検索

共用設備検索結果

フリーワード検索

200kV透過電子顕微鏡 (200kV Transmission Electron Microscope (TEM))

設備ID
NR-203
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
200kV透過電子顕微鏡
メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2200FS
仕様・特徴
・加速電圧: 200kV
・倍率: 1,200~600,000倍(分解能:0.31nm)
・オプション:
動画観察システム

走査透過電子顕微鏡(STEM) (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))

設備ID
NR-204
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
設備画像
走査透過電子顕微鏡(STEM)
メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
HD-2700
仕様・特徴
・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載

200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)

設備ID
NM-408
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
設備画像
200kV透過電子顕微鏡
メーカー名
日本エフイー・アイ (FEI)
型番
Talos F200X G2
仕様・特徴
・加速電圧80、200kV
・TEM粒子分解能0.25nm
・HAADF-STEM分解能0.16nm
・大面積EDS(SuperX)
・3次元トモグラフィー
・CMOSカメラ
・分割型検出器
スマートフォン用ページで見る