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原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- MS-203
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像）
倍率 X2,000 ～ X1,500,000
試料 3mmφ以内
3MV超高圧電子顕微鏡 (3MV Ultra-High Voltage Electron Microscope)
- 設備ID
- OS-001
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- （株）日立製作所 (Hitachi, Ltd.)
- 型番
- H-3000
- 仕様・特徴
- 加速電圧3MV
1MV物質・生命科学超高圧電子顕微鏡 (1MV Materials- and Bio-Science UHVEM)
- 設備ID
- OS-002
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1000EES
- 仕様・特徴
- 加速電圧1MV、TEM、STEM、EELS、試料冷却機能
200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡 (200kV atomic-resolution analytical TEM/STEM)
- 設備ID
- OS-003
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子（株） (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM、収差補正STEM
EDS、EELS分析機能
300kVクライオ電子顕微鏡 (300kV Cryo-EM)
- 設備ID
- OS-004
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック (Thermo Fisher Scientific)
- 型番
- Titan Krios
- 仕様・特徴
- 加速電圧300kV、試料冷却機能
電界放出型200kV高分解能電子顕微鏡 (200kV high-resolution FEG-TEM)
- 設備ID
- OS-008
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HF-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、HRTEM
200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM)
- 設備ID
- OS-009
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-800
- 仕様・特徴
- 加速電圧200kV、回折コントラスト実験
120kVバイオ観察電顕 (120kV Biological TEM)
- 設備ID
- OS-010
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7500
- 仕様・特徴
- 加速電圧 120kV
300kV透過電子顕微鏡 (300kV Transmission Electron Microscope (TEM))
- 設備ID
- NR-202
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-3100FEF
- 仕様・特徴
- ・加速電圧： 300kV
・倍率： 100～2,000,000倍（分解能：0.19nm）
・オプション：
クライオシステム
高温観察システム
動画観察システム
トモグラフィ,三次元再構成システム
電子エネルギー損失分光