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環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-004
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold FE
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、80kV
・ 分解能：TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.23nm
STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.10nm
・ 倍率：TEM像 50～2,000,000倍
STEM像 200～150,000,000倍
・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD×2)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k）
・試料2軸傾斜スライドカバーホルダー
・高温加熱通電ホルダー
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能元素マッピング構造解析装置 (Atomic resolution element mapping structure analyzer)
- 設備ID
- UT-005
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Thermal FE STEM
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 分解能：STEM明視野格子像 0.136nm
STEM暗視野格子像 0.082nm
TEM格子像 0.10nm
TEM粒子像 0.19nm
・ 倍率： STEM像 200～150,000,000倍
TEM像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、
軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k）
- 設備状況
- 稼働中
ハイスループット電子顕微鏡 (High Throughput Electron Microscope)
- 設備ID
- UT-006
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2800
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
電子顕微鏡観察を自動化。コントラスト＆ブライトネス、試料高さ、結晶方位あわせ、フォーカス、非点補正を自動調整。TEM、STEM、SEM、電子線回折の観察モードを瞬時に切り替え可能。高性能光学系採用により高分解能観察と高速分析を両立している。
□ 主な仕様
・分解能：二次電子像≦0.5nm,走査透過像 0.2nm,透過像(格子像) 0.1nm
・倍率：二次電子像 ×100～×150,000,000 走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000
・ 電子銃：ショットキー型電界放出電子銃 加速電圧 200kV･100kV
・ 試料系：試料傾斜 X軸±25゜Y軸±30゜
・ 分析：EDS、EELS検出器を装備
- 設備状況
- 稼働中
高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-007
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧：80,100,120,160,200kV
電子線源：熱電界放射型
分解能：0.192nm（粒子像）
試料最大傾斜角：±20°
試料移動：モーター駆動
排気方式：スパッターイオン、油拡散ポンプ
（２）画像記録 Gtan社 UltraScan
（３）分析装置
２）エネルギー分散型分光器（EDS）
- 設備状況
- 稼働中
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- UT-009
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010HC
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
試料最大傾斜角 ： ±30°
試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z)
排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP)
（２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像
（３）分析機能：EDS
- 設備状況
- 稼働中
クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM)
- 設備ID
- UT-010
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ ショットキー型FE電子銃装備
・ 分解能＜0.31nm
・ EDS、EELS検出器装備
・ TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備
・ 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備
・ CCD検出器（4k×4k,1k×1k）
・加速電圧：200kV、120kV
- 設備状況
- 稼働中
有機材料ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (Bio-TEM)
- 設備ID
- UT-011
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-1400
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・ 分解能＜0.38nm
・ オートフォーカス及び自動モンタージュ機能（自動つなぎ合わせ及び自動コントラスト補正）
・ 自動モンタージュは縦5枚×横5枚（合計2500万画素）が可能で、分解能を維持したままの大面積観察・超高速スクリーニングに対応可能。
・加速電圧：120kV
- 設備状況
- 稼働中
多機能電界放出型透過電子顕微鏡 (Multipurpose Analytical field emission transmission electron microscope,)
- 設備ID
- UT-012
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-F200
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
最新のオペレーティングシステムを採用。電子顕微鏡、CMOSカメラ、EDS、EELSを1つのシステムで操作が可能。
□ 主な仕様
・分解能：走査透過像 0.16nm,透過像(粒子像) 0.23nm
・倍率：走査透過像×100～×150,000,000 TEM像×500～×20,000,000
・ 電子銃：冷陰極電界放出形電子銃搭載 加速電圧 200kV･80kV
・ 試料系：試料傾斜 X軸±27゜Y軸±30゜
・ 分析：高感度のSDD検出器2本同時搭載、EELS検出器を装備
・ 非暴露冷却ホルダー対応
- 設備状況
- 稼働中
原子直視型超高圧電子顕微鏡 (Ultra-high voltage electron microscope)
- 設備ID
- UT-401
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM1250
- 仕様・特徴
- □主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 400、600、800、1,000、1,250kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
焦点距離 ： 8.2mm
球面収差係数 ： 1.4mm
色収差係数 ： 2.5mm
分解能 ： 0.1nm（粒子像）
試料最大傾斜角 ： ±35°
真空度 ： 7×10-6Pa以下（試料室）
排気方式 ： ターボ分子、イオン、クライオポンプ併 用（完全ドライ方式）
（２）電子線損傷低減装置（MDS） 組込
（３）画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート（25μm／ピクセル）
（４）収束電子線回折装置 組込
収束角（2α）／最小スポット径 ：
4.0mrad.／15nm～2.0mrad.／30nm
最大加速電圧 ： 1,250kV
最大試料傾斜角 ： ±25°
- 設備状況
- 稼働中