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共用設備検索結果
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 73件
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- 設備ID
- UT-402
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-4010
- 仕様・特徴
- （１）本体
加速電圧 ： 100、150、200、250、300、350、400kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
焦点距離 ： 3. 1mm
球面収差係数 ： 0.7mm
色収差係数 ： 1.6mm
分解能 ： 0.155nm（粒子像）
試料最大傾斜角 ：±25°
真空度 ： 3×10-5Pa以下（試料室）
排気方式 ： イオン、油拡散ポンプ
（２）電子線損傷低減装置（MDS） 組込
（３）画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート（25μm／ピクセル）
（４）分析装置
エネルギーロス型分光器（PEELS） ： 組込
エネルギー分散型分光器（EDS） ： 組込
- 設備ID
- NU-101
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1000K RS
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1000kV
ガス環境実験:最大ガス圧10,000Pa
HVEM-STEM機能
TEM分解能：0.14nm
STEM分解能：1nm
- 設備ID
- NU-102
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EELS, EDS
TEM点分解能：110pm
STEM－HAADF分解能：78pm
- 設備ID
- NU-103
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F/HK
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EDS
TEM点分解能：0.14nm
STEM－HAADF分解能：1nm
- 設備ID
- KT-401
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F(G5)
- 仕様・特徴
- 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・冷却温度：4.2K
- 設備ID
- KT-402
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2200FS
- 仕様・特徴
- 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。
・加速電圧：200kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.2nm
・エネルギー分解能：0.8eV
・分析機能：EELS
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
- 設備ID
- KU-004
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200ｋV
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
"透過電子顕微鏡"で検索した結果 73件
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