共用設備検索結果
中分類から探す
表示件数
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
- 設備状況
- 稼働中
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
- 設備状況
- 稼働中
雰囲気遮断加熱・冷却試料ホルダー (Atmosphere-shielded heating and cooling specimen holder)
- 設備ID
- KU-020
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- メルビル (Mel-Build)
- 型番
- Elecryo Vacuum Transfer Holder for JEOL 型式:2002-DTELCRTR-JE-23-KU
- 仕様・特徴
- その場観察、加熱・冷却、大気非暴露で電子顕微鏡内に試料を挿入可能
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
- 設備状況
- 稼働中
走査透過電子顕微鏡（STEM） (Scannning Transmission Electron Microscope (STEM))
- 設備ID
- NR-204
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2700
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 200 kV、120 kV、80 kV
・球面収差補正装置搭載
・分解能: 136 pm
・EDX検出器搭載
- 設備状況
- 稼働中
高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold))
- 設備ID
- NU-102
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EELS, EDS
TEM点分解能：110pm
STEM－HAADF分解能：78pm
- 設備状況
- 稼働中
高分解能透過電子顕微鏡システム (High resolution analytical scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- NU-103
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F/HK
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80, 200kV
TEM, STEM, EDS
TEM点分解能：0.14nm
STEM－HAADF分解能：1nm
- 設備状況
- 稼働中
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- SH-002
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2300A
- 仕様・特徴
- 分解能0.204nm
加速電圧200kV
- 設備状況
- 稼働中
低加速電圧対応原子分解能走査型透過電子顕微鏡 (Low-voltage atomic-resolution Scanning Transmision Electron Microscopy)
- 設備ID
- UT-001
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200CF
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・冷陰極電界放出電子銃
・加速電圧: 30 - 200 kV
・分解能: 0.071 nm (200 kV), 0.11 nm (60 kV)
・分析機能: EDS, EELS
・収差補正装置（プローブ補正）
・遠隔操作利用可
- 設備状況
- 稼働中
軽元素対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡（Cs-STEM） (Light elements visible ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-002
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold FE
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
照射系球面収差補正装置を標準搭載し、機械的・電気的安定度を極限まで高めることで、世界最高の走査透過像(STEM-HAADF)分解能 0.08nmを実現
□ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、120kV
・ 分解能：走査透過像※ 0.08nm (加速電圧200kV)※環状型暗視野検出器を使用
・ 倍率：走査透過像 200～150,000,000倍
・ 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み
・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (EDS)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k）
- 設備状況
- 稼働中