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高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-501
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan 80-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/80 kV
・球面収差補正装置（結像系）
・EDS分析（検出器＝30 mm2）
・高傾斜一軸ホルダー
- 設備状況
- 稼働中
超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-502
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (double)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置（照射系、結像系）
・EDS分析（30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
・エネルギー分解能 0.30 eV/0.85 eV (mono on/off)
- 設備状況
- 稼働中
超高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-503
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.)
- 型番
- Titan3 60-300 (probe)
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 300 kV/60 kV
・球面収差補正装置（照射系）
・EDS分析（30 mm2 検出器 ×4=120 mm2)
- 設備状況
- 稼働中
超高分解能透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-504
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV/80 kV
・球面収差補正装置（照射系、結像系）
・EDS分析（検出器＝100 mm2)
・EELS分光器 エネルギー分解能 0.35 eV
・高傾斜一軸ホルダー
- 設備状況
- 稼働中
分析電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-516
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- トプコン株式会社 (Topcon)
- 型番
- EM-002B
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDS点分析・マッピング
・プリセッション回折
- 設備状況
- 稼働中
透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-517
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2000EXⅡ
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・試料加熱ホルダー（最高温度 約800 ℃）
・試料冷却ホルダー（最低温度 約-170 ℃）
- 設備状況
- 稼働中
透過電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- TU-520
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- ・加速電圧 200 kV (LaB6電子銃)
・EDSマッピング
- 設備状況
- 稼働中
透過型電子顕微鏡 (Transmission electron microscope)
- 設備ID
- UE-017
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 試料のミクロな投影像を観察
・加速電圧：200 kV
・格子分解能：0.1nm、点分解能: 0.23 nm
・STEMモードの分解能：0.2 nm
- 設備状況
- 稼働中
超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope)
- 設備ID
- UT-003
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-ARM200F Cold FE
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解
能が0.11nmまで向上
・ 高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上
・ 鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上
・ 熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆
□ 主な仕様
・ 加速電圧:200kV、120kV、100kV、80kV、60kV
・ 分解能：粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm(加速電圧200kV)
・ 倍率：走査透過像 200～150,000,000倍
・ 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍
・ 収差補正装置：結像系球面収差補正装置
・ 検出器：CCDカメラ、CMOSカメラ×2
- 設備状況
- 稼働中
ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope)
- 設備ID
- UT-009
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
- 型番
- JEM-2010HC
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
（１）本体
加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV
電子線源 ： 単結晶LaB6
試料最大傾斜角 ： ±30°
試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z)
排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP)
（２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像
（３）分析機能：EDS
- 設備状況
- 稼働中