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高分子相構造解析システム (Polymer Phase Structure Analyzing system)
- 設備ID
- YG-011
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子 エビデント ライカ (Otsuka Electronics Evident Leica)
- 型番
- PP-1000 BX53LED-33P-OC-D Multicut R
- 仕様・特徴
- 1. 小角散乱装置
小角光散乱により短時間でサブミクロン～数百ミクロンの高分子やフィルムの構造を評価できる。加熱冷却ステージ付で温度による構造変化をリアルタイム測定可能。
システムで総合的に評価。
・ポリマーブレンドの相分離過程
・ポリマーの結晶化過程
2.偏光観察用システム顕微鏡
無限遠補正UIS2光学系と偏光特性を考慮した光学系により偏光観察、レタデーション測定が可能。高解像度、高コントラストの画像提供
3. ミクロトーム
2段階のトリミング機能(50、10ミクロン)による素早い面出しと正確な試料送り機構による、正確な厚みの切片を作成可能。タングステンブレード、ダイヤモンドナイフを用いる。
- 設備状況
- 稼働中
全自動多目的X線回折装置 (SmartLab, X-ray diffractometer)
- 設備ID
- YG-601
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料にＸ線を照射した際、Ｘ線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析。結晶構造にX線を照射すると格子面でX線が反射され、それぞれが干渉し合い、回折線を発生させ、検出
・対象試料：無機・有機物質の粉末、高分子材料、タンパク質、金属部品、有機・無機薄膜半導体、エピタキシャル膜、コロイド粒子など
- 設備状況
- 稼働中
X線非破壊検査装置 (TXScanner, Micro-focus X-ray CT scanner)
- 設備ID
- YG-602
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- 東芝 I Tコントロールシステム (TOSHIBA IT & CONTROL SYSTEMS CORPORATION)
- 型番
- TXS-31300FD
- 仕様・特徴
- 高エネルギーから低エネルギーまでの全X線領域でコントラストが高く、ダイナミックレンジの広い透視画像とCT画像を得ることができる汎用性に優れたX線CTスキャナ。品質管理から精密解析まで様々な応用が可能
- 設備状況
- 稼働中