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Ｘ線回折装置 (X-ray diffraction machine)
- 設備ID
- IT-029
- 設置機関
- 東京工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- 薄膜評価用試料水平型
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置 (Intelligent X-Ray Diffractometer)
- 設備ID
- KT-310
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料水平保持方式
薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができ、最大サイズ8インチΦの試料の測定、および4インチΦの場合はエリアマップ測定が可能
・多彩な薄膜評価
組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など
・粉末解析に
定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など
・試料サイズ 最大φ8インチ
・組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価等の測定可能
- 設備状況
- 稼働中
電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope )
- 設備ID
- KU-001
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-1300NEF
- 仕様・特徴
- オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験
- 設備状況
- 稼働中
収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope )
- 設備ID
- KU-002
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析
- 設備状況
- 稼働中
マイクロカロリーメーター高エネルギー分解能元素分析装置 (High resolution SEM with TES high energy resolution EDS)
- 設備ID
- KU-003
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス、カールツァイス (Hitachi High-Tech Science)
- 型番
- Zeiss-ULTRA55 ＋ SII-TES
- 仕様・特徴
- 超伝導転移端検出器による高感度組成・状態分析(10eV@6KeV)、SDD(150mm2)検出器による組成・状態分析
- 設備状況
- 稼働中
収差補正高分解能電子顕微鏡 (Cs corrected atomic resolution electron microscope )
- 設備ID
- KU-007
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 走査歳差運動照射電子回折SPEDによる結晶方位解析
- 設備状況
- 稼働中
ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope)
- 設備ID
- KU-009
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100HCKM
- 仕様・特徴
- 組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧：100,120,200ｋV、CMOSカメラ(4K)
- 設備状況
- 稼働中
低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM)
- 設備ID
- KU-016
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM300F2
- 仕様・特徴
- 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム
- 設備状況
- 稼働中
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置（独自開発） ((original))
- 型番
- 専用装置（独自開発）
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
- 設備状況
- 稼働中
汎用電子顕微鏡 (Conventional STEM/TEM)
- 設備ID
- KU-019
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 組織観察、元素分析、電子解析図形収集の汎用機
- 設備状況
- 稼働中