共用設備検索結果
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薄膜構造評価X線回析装置(XRD) (X-ray diffraction spectrometer)
- 設備ID
- RO-526
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク ()
- 型番
- ATX-E
- 仕様・特徴
- 角度分解能 0.0002度(2θ)
- 設備状況
- 稼働中
試料水平型強力X線回析装置 (X-ray diffractometer)
- 設備ID
- SH-005
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9K
- 仕様・特徴
- ⾼フラックス9 kW回転対陰極X線発⽣装置
ハイブリッドピクセルアレイ検出器
- 設備状況
- 稼働中
XRD (XRD)
- 設備ID
- TU-323
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー・エイエックスエス (Bruker)
- 型番
- D8 DISCOVER
- 仕様・特徴
- サンプルサイズ：小片～6インチ
- 設備状況
- 稼働中
高出力全自動水平型多目的X線回折装置 (Intelligent X-ray Diffraction System )
- 設備ID
- TU-515
- 設置機関
- 東北大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab 9SW
- 仕様・特徴
- ・最大出力 9 kW
・θ-θ型試料水平高精度ゴニオメータ
（-3°～160°、ゴニオ半径300 mm）
・インプレーンアーム 2θχ（-3°～120°）
・DSCユニット（室温～350 ℃）
・Cuターゲット
- 設備状況
- 稼働中
DSC粉末X線同時測定装置 (Powder X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-004
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Ultima III
- 仕様・特徴
- 粉末X線回折測定、示差走査熱量(DSC)とXRDの同時測定
・Cu封入管線源 集中法/平行法切替ユニット
・DSC測定温度範囲：-40℃〜350℃
- 設備状況
- 稼働中
HPC型単結晶X線回折装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-005
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLab Synergy-R/DW/RF
- 仕様・特徴
- 単結晶試料のX線結晶構造解析
・Cu & Moデュアルターゲット高輝度回転対陰極型X線発生装置
・試料位置でのX線光束：約130 µm
・窒素ガス吹付型試料冷却装置
- 設備状況
- 稼働中
精密構造解析用X線回折装置 (Powder X-ray diffractometer)
- 設備ID
- UE-018
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab/R/Kα1/RE
- 仕様・特徴
- 粉末X線回折測定、薄膜試料の結晶構造解析
・Cu線源 回転対陰極型X線発生装置 9 kW
・集中法/平行法切替ユニット Kα1ユニット Ge(220)モノクロ
・10試料自動交換装置搭載、汎用試料台(χΦアタッチメント)
- 設備状況
- 稼働中
高輝度In-plane型X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-202
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab(9kW)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 高輝度Ｘ線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるＸ線反射率測定，逆格子マップ測定，ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用することが可能。
・ インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能。
□ 主な仕様
・ X線源：9kW回転対陰極X線発生装置A/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・薄膜高分解平行ビーム法・インプレーン光学系
・ 検出器：HyPix-3000
- 設備状況
- 稼働中
粉末X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-203
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab (3kW)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系。
・ In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。
・ 900℃までの高温測定用アタッチメントも用意している。
□ 主な仕様
・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・インプレーン光学系
・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器
・SmartLab用AntonPaarDHS900アタッチメント
- 設備状況
- 稼働中
粉末X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-204
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab (Kα1)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末Ｘ線回折等に威力を発揮。
□ 主な仕様
・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・集光法
・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器
・対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系が可能
・キャピラリー回転測定可能
- 設備状況
- 稼働中