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応力・イメージング測定装置 (The apparatus for imaging and measuring material stress)
- 設備ID
- AE-004
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- 浜松ホトニクス 米倉製作所 DEBEN (Hamamatsu Photonics K.K. YONEKURA MFG. Co., Ltd. DEBEN)
- 型番
- M11427-43 CT5000
- 仕様・特徴
- 金属材料などの変形中の応力評価やイメージングが可能
【応力・ひずみ】
・時間分解能：最大100Hz
・ひずみ精度：0.01%（応力精度：30MPa＠鉄鋼材料）
・空間分解能：最小5μm
・侵入深さ：10mm＠鉄鋼材料、50mm＠アルミニウム合金
・負荷中、高温中での計測が可能
【イメージング】
・時間分解能：最大1000Hz
・空間分解能：最小3μm
・試料サイズ：φ4mm
・CT計測が可能（最小時間約5分）
・負荷中での計測が可能
〇上述2つの測定を併用することが可能
〇レーザー等の持ち込み装置を利用したその場時分割計測が可能
- 設備状況
- 稼働中
カッパ型多軸回折計 (κ-type X-ray diffractometer)
- 設備ID
- AE-005
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- ニューポート (Newport)
- 型番
- 特注
- 仕様・特徴
- 通常の回折計のような6軸に加え回転軸を持ち表面の構造解析も可能
・長い2thetaアーム(による高分解能性
・堅牢な回折計
・広いオープンスペースによる試料選択の柔軟性
・試料温度：10-1000K
・試料：固体（誘電体、非晶質）や薄膜
・電気化学同時測定
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置(XRD) (X-ray Diffractometer（XRD）)
- 設備ID
- AT-070
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Ultima_Ⅲ
- 仕様・特徴
- ・型式:Ultima_III
・試料サイズ: 100mmφ×9mm
・試料ステージ:水平型(インプレーン測定機構付)
・傾斜多層膜放物面モノクロメータ付
・チャンネルカットモノクロメータ
・ 受光モノクロメータ
・ 6試料交換装置
・小角散乱光学系等の利用可
・ 試料形態:薄膜、粉
・ソフトウエア：定性分析、定量分析、反射率、極点、逆格子マップ、結晶子サイズ、結晶粒サイズ、結晶化度等
- 設備状況
- 稼働中
X線小角散乱装置（SAXS) (Small and wide angle X-ray scattering instrument (SAXS))
- 設備ID
- CT-016
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- Nano-Viewer
- 仕様・特徴
- ・測定可能範囲：0.2~100 nm
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置（XRD） (X-ray diffractometer (XRD))
- 設備ID
- CT-033
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- D8 DISCOVER
- 仕様・特徴
- ・1次元粉末X線測定モジュール
・2次元広角/小角X線測定モジュール
・超小角（USAXS）測定モジュール
・GI-WAXD/SAXS測定モジュール
・高温試料チャンバー（室温~1100℃）
- 設備状況
- 稼働中
Ｘ線回折装置 (X-ray diffraction machine)
- 設備ID
- IT-029
- 設置機関
- 東京工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- 薄膜評価用試料水平型
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置 (Intelligent X-Ray Diffractometer)
- 設備ID
- KT-310
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料水平保持方式
薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができ、最大サイズ8インチΦの試料の測定、および4インチΦの場合はエリアマップ測定が可能
・多彩な薄膜評価
組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など
・粉末解析に
定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など
・試料サイズ 最大φ8インチ
・組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価等の測定可能
- 設備状況
- 稼働中
XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline)
- 設備ID
- KU-017
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 専用装置（独自開発） ((original))
- 型番
- 専用装置（独自開発）
- 仕様・特徴
- 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線
- 設備状況
- 稼働中
X線回折装置群 (X-ray diffraction system)
- 設備ID
- KU-514
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLabMicroMax-007HFNANO-Viewer KMYC
- 仕様・特徴
- 【全自動水平型多目的Ｘ線回折装置：SmartLab】
・小角散乱アタッチメントで0.1°からの測定可能（小角分解能0.1°/2θ）
・シンチレーションカウンターおよびD/TEX検出器搭載
・CALSA 超高分解スパイラルアナライザ
・粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能
【単結晶X線解析装置：MicroMax-007HF】
・高輝度迅速型のＸ線単結晶構造解析装置。
・微小焦点化・高輝度化されており迅速な測定、微小試料の測定が可能。
・X線集光ミラーにVariMax、X線検出部にHypix-6000搭載
・低温吹付装置（窒素）で温度制御可能。
【小角X線散乱装置NANO-Viewer KMYC】
・半導体直接検出型2次元検出器PILATUS100K/R搭載
・バルクサンプルの数nm~数百nm程度の構造評価が可能
・薄膜サンプルの配向評価が可能
・3 msecでの高速読み取りが可能
- 設備状況
- 稼働中
結晶スポンジ法を用いた分子構造解析 (Molecular structure analysis using the crystalline sponge method)
- 設備ID
- MS-208
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB P200
- 仕様・特徴
- XtaLAB P200
X線源 回転対陰極型、Mo/Cuデュアル線源 Mo: 50 kV・24 mA (1.2 kW) Cu: 40 kV・30 mA (1.2 kW)
検出器 PILATUS 200K
温度可変 100 K〜室温
- 設備状況
- 稼働中