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電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- UE-011
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 最高加速電圧: 200kV, 倍率: ×50-1,500,000
格子分解能: 0.1nm, 点分解能: 0.23nm, STEMモード: 0.2nm
リモート対応型電子線マイクロアナライザー (Remote-controlled electron probe microanalyzer)
- 設備ID
- SH-010
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-iHP200F
- 仕様・特徴
- 2次電子分解能 2.5nm
分析元素Ｂ～Ｕ
ＷＤＳ：５基、ＥＤＳ１基
最大試料100mm×100mm×50mm
加速電圧1～30kV
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NI-011
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFTV nano TOF
- 仕様・特徴
- 質量分解能：9000M/Δm以上
スペクトル測定およびマッピング、深さ分析
サンプルの大気非暴露測定可
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置 (Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer)
- 設備ID
- NI-013
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本ベル (MicrotracBEL)
- 型番
- BELSORP-max
- 仕様・特徴
- 細孔分布：直径0.35～500nm
最小比表面積：0.01m2/ｇ（N2）
放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)
- 設備ID
- QS-111
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・物質・材料の磁性および電子状態や格子振動を顕微観察できる、超高輝度なγ線を利用して、鉄のメスバウアー分光を行う装置。
・微小試料や薄膜、更には、斜入射法や同位体置換試料を利用することで、金属薄膜の表面・界面部を１原子層毎に磁気探査することが可能。
・スピントロニクス・磁性材料研究をサポート。
・鉄以外にニッケルを対象元素とした観察が可能。それ以外の元素については要相談。
電子線マイクロアナライザ (Electron Probe Micrianalyser(EPMA))
- 設備ID
- NR-404
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 島津製作所 (Shimadzu)
- 型番
- EPMA1610
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 〜 30 kV
・WDS検出器（5ch）
・EDS検出器搭載
・CL検出器搭載