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"電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)"で検索した結果 5件
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電界放出形電子プローブマイクロアナライザー (Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA))
- 設備ID
- HK-303
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：1～30kV
分析機能：WDS
- 設備状況
- 稼働中
電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- MS-236
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8230 SS-94000SXES 軟X線分光器搭載
- 仕様・特徴
- 50 eVまでの低エネルギーを測定できる軟X線分光器（SXES）を搭載。
- 設備状況
- 稼働中
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA))
- 設備ID
- NM-207
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8500F
- 仕様・特徴
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：1～30 kV
・照射電流：10 pA ～500 nA
・測定可能元素：Be～U
・最大試料サイズ：100 x 100 x 20 mm
- 設備状況
- 稼働中
リモート対応型電子線マイクロアナライザー (Remote-controlled electron probe microanalyzer)
- 設備ID
- SH-010
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-iHP200F
- 仕様・特徴
- 2次電子分解能 2.5nm
分析元素Ｂ～Ｕ
ＷＤＳ：５基、ＥＤＳ１基
最大試料100mm×100mm×50mm
加速電圧1～30kV
- 設備状況
- 稼働中
電子線元素状態分析装置 (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- UE-011
- 設置機関
- 電気通信大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8530F
- 仕様・特徴
- 固体試料表面の元素分析
・分析元素範囲 WDS: B～U、EDS: B～U
・二次電子分解能 3 nm (WD=11 mm、30 kV)
・分析条件最小プローブ径：40 nm (10 kV、1x1x10-8 A)
・走査倍率：x 40～ x 300,000 (WD=11 mm)
- 設備状況
- 稼働中
"電子線プローブマイクロアナライザー(EPMA)"で検索した結果 5件