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共用設備検索結果

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シート抵抗測定器 (Sheet resistance meter)

メーカー名
エヌピイエス社 (NPS)
型番
Σ-5+
設備画像
シート抵抗測定器
設置機関
豊田工業大学
仕様・特徴
・サンプル制限は少ない。260mm幅のステージに載れば測定可能
・1.000mΩ/□~5000.0KΩ/□を約1sで測定

微小デバイス特性評価装置 (Electron Beam Absorbed Current (EBAC) Characterization System nanoEBAC )

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
NE4000
設備画像
微小デバイス特性評価装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・加速電圧: 500 V ~ 30 kV
・分解能: 15nm(加速電圧2kV、WD_15mm)
・プローブユニット:4
・付属:半導体デバイス・アナライザ(B1500A)

分光感度・内部量子効率測定装置 (Solar Simulator)

メーカー名
分光計器 (BUNKOUKEIKI)
型番
CEP-2000RP
設備画像
分光感度・内部量子効率測定装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・波長範囲;300~1200nm
・単色照射面積:10×10mm

熱/電気物性評価装置 (Physical Property Measurement System (PPMS))

メーカー名
カンタムデザイン (Quantum Design)
型番
PPMS EverCoolⅡ
設備画像
熱/電気物性評価装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・熱特性:比熱測定(熱容量)、熱輸送測定(熱伝導率、ゼーベック係数、メリット係数(ZT))
・電気特性:電気輸送特性、直流抵抗
・温度:2K-400K
・高真空オプション:<10-5Torr

プローバ (High-temperature manual probe station)

メーカー名
日本マイクロニクス (Micronics Japan)
型番
C-51
設備画像
プローバ
設置機関
広島大学
仕様・特徴

半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer)

メーカー名
アジレント (Agilent)
型番
4156他
設備画像
半導体パラメータアナライザ
設置機関
広島大学
仕様・特徴
トランジスタ特性測定(HP4156、プローバ含む)、
電源3ユニット、最小測定電流0.1pA

LCRメータ (LCR meter)

メーカー名
アジレント (Agilent)
型番
4284他
設備画像
LCRメータ
設置機関
広島大学
仕様・特徴

インピーダンスアナライザ (Impedance Analyzer)

メーカー名
アジレント (Agilent)
型番
4294他
設備画像
インピーダンスアナライザ
設置機関
広島大学
仕様・特徴

ホール効果測定装置 (Hall effect measuring device)

メーカー名
ACCENT (ACCENT)
型番
HL5500PC
設備画像
ホール効果測定装置
設置機関
広島大学
仕様・特徴
試料の抵抗値、キャリア濃度及び移動度を測定可

ウェハプローバ (Wafer prober)

メーカー名
カール・ズース (SUSS MicroTec)
型番
PM5
設備画像
ウェハプローバ
設置機関
香川大学
仕様・特徴
対応基板サイズ:直径1インチ~150mm
X・Y移動範囲(粗動):最大150mm×150mm
X・Y移動範囲(微動):10mm×10mm
Θ調整範囲:360°
高さ調整範囲:10mm
顕微鏡X・Y移動範囲:50mm×50mm
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