共用設備検索結果
"デバイス特性"で検索した結果 50件
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- メーカー名
- Cascade (Cascade)
- 型番
- Elite 300
- 設備画像
- 設置機関
- 東京大学
- 仕様・特徴
- B1500A,DS090804A,N6705B,81160A,3498-A,DSO-Xを含むラック
- メーカー名
- 国際電気アルファ（日立国際電気） (Hitachi Kokusai Electric Inc.)
- 型番
- VR-120S
- 設備画像
- メーカー名
- ポリテックジャパン(株) (Polytec)
- 型番
- MSA-500-TPM2-20-D
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- MEMSデバイスの動的特性(面外,面内)
および表面形状を3次元で測定
・MEMSデバイスの動的特性(面外,面内)および表面形状を3次元で測定
- メーカー名
- (株)日本マイクロニクス (MICRONICS JAPAN CO., LTD.)
- 型番
- Model 708fT
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 微小電流(ｆAレベル)領域の解析・評価を行うためのマニュアルプローバ
・マニュアルタイプ
・ウエハサイズ ～Φ200mm
- メーカー名
- カスケード・マイクロテック(株) (Cascade Microtech, Inc.)
- 型番
- PLV50
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- Φ150mm基板まで対応できるマニュアルプローブシステム
(-40℃～+200℃過調制御可能)
・チャックサイズ：Φ150mm，Φ100mm，小片基板 ほか
・チャック温度：-40～+200℃
・真空チャンバー 制御圧力：10～10-2Pa
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
- 型番
- B1505A
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 基本的にC17のプローバと組み合わせて使用する。(別のプローバ等を使用される場合は、要相談)
・IV測定 電流: 10 fA～1 A 電圧: 2μV～200 V
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.)
- 型番
- 4294A
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- アジレント・テクノロジー(株)社製 4294A
基本インピーダンス確度 ±0.08%
周波数 40Hz～110MHz
真空プローバ；カスケード・マイクロテック社製 PLV50
チャックサイズ：Φ150mm，Φ100mm，小片基板 ほか
チャック温度：-40～+200℃
真空チャンバー 制御圧力：10～10-2Pa
- メーカー名
- ネオアーク(株) (NEOARK Corporation)
- 型番
- MLD-230D-200K
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- ネオアーク(株)社製 MLD-230D-200K
測定方向 縦振動、横振動の方向を切り替えて測定
測定周波数 1kHz～200MHｚ
- メーカー名
- Solartron社 (Solartron Analytical)
- 型番
- 1470E
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 英国ソーラトロン社製セルテストは、 インピーダンスアナライザ（1260型）と8チャンネルポテンショ/ガルバノスタット（1470Ｅ型）から構成されます。
様々な電気化学測定が最大8チャンネルまで独立測定が可能です。
各種電池、キャパシタなどエネルギーデバイスの伝導度測定、酸化還元電位測定、 インピーダンス測定による劣化解析などが可能です。
・インピーダンスアナライザと8チャンネルポテンショ/ガルバノスタットの構成
・8チャネル独立測定可能
- メーカー名
- (株)アポロウエーブ (APOLLOWAVE Corporation)
- 型番
- α150
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- (株)アポロウエーブ社製 α150
チャックサイズ6インチ(室温～300℃)
プローブ位置合わせのストローク量: X,Y,Z各±5 mm
RFプローブキット
ネットワークアナライザ
半導体パラメータアナライザ
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