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磁性薄膜作成評価 (Magnetic thin film creation evaluation)

メーカー名
 ()
型番
設備画像
磁性薄膜作成評価
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
仕様・特徴
超高真空下での磁性薄膜作成・磁気光学Kerr効果によるその場観察評価。

有機合成DX (Organic synthesis DX)

メーカー名
 ()
型番
設備画像
有機合成DX
設置機関
自然科学研究機構  分子科学研究所
仕様・特徴
実験計画法に基づき、自動合成システムによる実験データの収集を行い、ベイズ最適化等による収率・選択性の向上などのデータ解析を行う。

ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー) (Zetasizer)

メーカー名
シスメックス株式会社(マルバーン) (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
型番
NANO-ZS
設備画像
ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー)
設置機関
大阪大学
仕様・特徴
【特徴】
粉体試料の粒子径や、コロイド溶液・ナノ粒子のゼータ電位が測定可能な分析装置です。
希釈されたサンプルや、低濃度または高濃度サンプルにも対応可能です。
(濃度0.1ppm~40%/Wでの測定が可能)
【仕様】
必要試料量:70μL
粒子径測定:0.6nm~6μm(動的光散乱法)
ゼータ電位測定:3nm~10μm

位相変調型分光エリプソメーター (Spectroscopic Ellipsometer)

メーカー名
株式会社堀場製作所 (HORIBA, Ltd.)
型番
UVISEL LT NIR-NNG
設備画像
位相変調型分光エリプソメーター
設置機関
大阪大学
仕様・特徴
【特徴】
紫外~近赤外域まで測定可能な高精度分光エリプソメーターです。
高周波(50kHz)にて偏光変化を採取する位相変調機能を備えています。
【仕様】
照射領域:2×6mm
測定波長範囲:260~2100nm
光源:Xeランプ

接触式膜厚測定器 (Stylus Profiler)

メーカー名
ブルカージャパン株式会社 (Bruker Japan K.K.)
型番
DektakXT
設備画像
接触式膜厚測定器
設置機関
大阪大学
仕様・特徴
【特徴】
10nm以下の段差を測定できる触針式の膜厚測定器です。
3D機能を備えたプロファイリングシステムを搭載しており、3Dマッピングが可能です。
【仕様】
試料ステージ:150mmφ
分解能:0.4nm
垂直測定レンジ:1 mm
膜厚測定再現性(1σ):5Å
走査距離上限:55mm
触針圧:1mg~15mg

放射光メスバウアー分光装置 (Synchrotron radiation Mössbauer spectrometer)

メーカー名
神津精機(株)ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
型番
なし(特別仕様)
設備画像
放射光メスバウアー分光装置
設置機関
量子科学技術研究開発機構(QST)
仕様・特徴
57Fe, 61Ni等のメスバウアー核種を対象とした放射光メスバウアー分光が可能で、物質の電子・磁気状態や格子振動状態に関する情報を得る事ができる。更に、斜入射法や同位体置換試料を利用する事で、金属薄膜の表面部を原子層の深さ分解能で測定する事も可能である。

示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 (TG-DSC)

メーカー名
日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech)
型番
DSC 7000X/STA 7200
設備画像
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
[DSC7000X]
・測定方式: 熱流束型
・温度範囲: -150℃~725℃
・DSC測定範囲: ±100mW
・DSC感度: 0.1μW(200℃等温保持条件時)
[STA7200]
・天秤方式: デジタル水平作動型
・温度範囲: 室温~1100℃
・TG範囲: ±400mg(感度0.1μg)
・DTA範囲: ±1000μV(感度0.03μV)

分光エリプソメーター (Spectroscopic Ellipsometer)

メーカー名
堀場ージョバンイボン (HORIBA JOBIN YVON)
型番
UVISEL ER AGMS-NSD
設備画像
分光エリプソメーター
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・波長範囲: 0.6 eV 〜 6.0 eV(206 nm 〜2066 nm )
・スポット径: 約 5 mm * 2 mm

微細形状測定装置 (Microfigure Measurering Instrument)

メーカー名
小坂製作所 (Kosaka)
型番
ET200
設備画像
微細形状測定装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・再現性 0.3nm以内
・分解能 Z:0.1nm X:0.1μm

全自動元素分析装置 (Elemental Analyser)

メーカー名
パーキンエルマー (PerkinElmer)
型番
2400ⅡCHNS/O
設備画像
全自動元素分析装置
設置機関
奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
仕様・特徴
・測定元素:C・H・N
・燃焼方式:縦型密閉方式
・精度:±0.3%以内
・検出法:フロンタルクロマトグラム法
・オートサンプラー:60試料
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