共用設備検索結果
"その他分析装置"で検索した結果 85件
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- メーカー名
- アルバック (ULVAC)
- 型番
- Dektak150
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・触針式
・垂直分解能：10nm
・測定距離：50 µm～55 mm
- メーカー名
- (株)モリテックス (MORITEX Corporation)
- 型番
- IRise－T
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 赤外線により、非接触にて対象物の観察(内部観察）を行い、かつシリコンウェハ上の薄膜の厚みを測定することができる。
・基板 最大Φ8インチウェハー
・画像分解能 0.26μm/画素
・厚さ分解能 0.01μm以下( 5～150μm )
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- FE-5000
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- ・分光エリプソスペクトルの多波長同時測定
・基板（バルク）光学定数（n、k）が直接解析可能
・角度可変測定により、薄膜のより詳細な解析に対応
・測定膜厚範囲 0.1nm～1μm
・測定波長範囲 250nm～2000nm
・サンプルサイズ 200mm × 200mm以上
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- ELSZ-2Plus
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 希薄から濃厚系試料のゼータ電位・粒子径測定が可能
・測定範囲 ゼータ電位：-200～200mV
・電気移動度：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s
・粒子径：0.6nm～7μm
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics Co., Ltd.)
- 型番
- DLS-8000DH
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- ・動的光散乱法
粒径分布、拡散係数分布を測定
・静的光散乱法
第二ビリアル係数・重量平均分子量・慣性半径の見積もり、重量平均分子量
・動的光散乱法：粒径分布、拡散係数分布測定
・静的光散乱法：第二ビリアル係数・重量平均分子量測定・慣性半径の見積もり
- メーカー名
- (株)エリオニクス (ELIONIX INC.)
- 型番
- ENT-2100
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 用途：圧子を微小荷重で試料に押込み、押込み深さを連続的に測定することで、試料表面の力学的特性を評価する装置。
・最大試料サイズ Φ50x t3.5mm
・荷重範囲 1μN～100ｍN
- メーカー名
- Veeco社
(株)アルバック (Veeco Instruments Inc.
ULVAC, Inc.)
- 型番
- Dektak150
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- (株)アルバック社製 Dektak150
垂直分解能(最高) 0.1nm
測定距離 50μm～55mm
サンプルステージサイズ 直径 150mm
- メーカー名
- Veeco社
(株)アルバック (Veeco Instruments Inc.
ULVAC, Inc.)
- 型番
- Dektak150
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- (株)アルバック社製 Dektak150
垂直分解能(最高) 0.1nm
測定距離 50μm～55mm
サンプルステージサイズ 直径 150mm
- メーカー名
- ケーエルエー・テンコール(株) (KLA Corporation)
- 型番
- Zeta-388
- 設備画像
- 設置機関
- 京都大学
- 仕様・特徴
- 非接触の３D表面形状測定装置。完全自動計測の為のハンドラを備えている。マルチモード光学系によって、透明・不透明基板の表面粗さ、段差及び膜厚測定が可能。
- メーカー名
- 大塚電子マルバーンマルバーン・パナリティカルGonotec Knauer (Otsuka Electronics Malvern InstrumentsMalvern PanalyticalGonotec Knauer)
- 型番
- ELSZ-2,Nano ZSPZetasizer ProOSMOMAT 070Vapor Pressure Osmometer K-7000
- 設備画像
- 設置機関
- 九州大学
- 仕様・特徴
- 【ゼータ電位／粒径測定システム：ELSZ-2】
・粒子径測定範囲（0.6-7000nm）
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲：粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲：0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能
【Nano ZSP、Zetasizer Pro】
・粒子および分子径 3nm~10mm
・平行拡散、電気泳動移動度
・高濃度および低濃度での粒子のゼータ電位
・タンパク質およびポリマー溶液の濃度
・分子量、A2, kD
・ナノ粒子、コロイド、およびタンパク質の特性評価など。
・ポリマー溶液の粘度は10mPasまで測定可能
・ 粒子 / 分子径、絶対分子量、ゼータ電位
【蒸気圧式絶対分子量測定装置OSMOMAT 070】
・測定分子量：トルエン：50～50,000 Dalton (g/mol)
・純水：50～5,000 Dalton (g/mol)
【蒸気圧式分子量測定装置：Vapor Pressure Osmometer K-7000】
・ 測定分子量 水：< 10,000 g/mol, 有機溶媒：40-40,000 g/mol
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