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高出力全自動水平型多目的X線回折装置 (Intelligent X-ray Diffraction System )
- メーカー名
- 株式会社リガク (Rigaku Corporation)
- 型番
- SmartLab 9SW
- 設備画像
- 設置機関
- 東北大学
- 仕様・特徴
- ・最大出力 9 kW
・θ-θ型試料水平高精度ゴニオメータ
（-3°～160°、ゴニオ半径300 mm）
・インプレーンアーム 2θχ（-3°～120°）
・DSCユニット（室温～350 ℃）
・Cuターゲット
CHN有機微量元素分析装置 (C, H, N Elemental Analyzer)
- メーカー名
- J-SCIENCE LAB (J-SCIENCE LAB )
- 型番
- JM-11
- 設備画像
- 設置機関
- 東北大学
- 仕様・特徴
- ・測定方式：自己積分方式
・燃焼部の温度制御方式：ソリッドステートリレー制御によるPID制御（各炉の温度設定はパソコンから任意に可能）。
・恒温槽の温度制御方式：ソリッドステートリレー制御によるPID制御。
・検出器：熱伝導度検出方式、 60Ω 4素子タングステンフィラメント 3組を内臓。
・気圧補正：本体に内蔵し、コンピュータに自動入力。
・試料サンプラー：横型で最大20サンプルの自動運転。
・燃焼方式：ヘリウム酸素混合方式。
有機ハロゲン・硫黄分析装置 (Halogen and Sulfur Analyzer)
- メーカー名
- ヤナコテクニカルサイエンス (Yanaco)
- 型番
- YHS-11
- 設備画像
- 設置機関
- 東北大学
- 仕様・特徴
- ・構成：試料導入装置（HAS-25）、試料燃焼ユニット（HNS-18)、燃焼ガス吸収ユニット（HSU-45）、イオンクロマトグラフ（ICA-2000)
・イオンクロマトグラフ部：電気伝導度検出器（ダイナミツクレンジ：512mS/m）、脱気装置と恒温槽ユニットが一体型
極限環境下電磁物性計測装置 (Physical Property Measurement System (PPMS))
- メーカー名
- 日本カンタム・デザイン (Quantum Design Japan)
- 型番
- PPMS-14LHattt
- 設備画像
- 設置機関
- 東京大学
- 仕様・特徴
- □ 主な仕様
・14 T超伝導マグネット
・温度制御 1.9K～400K
・試料空間 25.4mm
□主な用途
・電気輸送特性評価
・磁気特性評価
・熱輸送特性評価など
全自動元素分析装置 (CHNS/O Elemental Analyzer)
- メーカー名
- Perkin Elmer社 (PerkinElmer)
- 型番
- 2400Ⅱ CHNS/O
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・サンプル量分析範囲 ： ～500 mg（固体、液体）＊目的元素含有量に依存
・C(0.001～3.6 mg）、H（0.001～1.0 mg）N(0.001～6.0 mg）、S（0.001～2.0 mg）
・測定方式： 静的燃焼、フロンタルクロマトグラフィー、TCD検出
熱重量測定装置群 (Thermogravimetric Analyzer)
- メーカー名
- SII社 (SII)
- 型番
- TG TG/DTA6200 DSC DSC6200
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- TG TG/DTA6200 ・重量測定：水平差動天秤方式
・試料量：200mg（最大）
・測定温度：室温〜1100℃
・昇温速度：0.01〜200.00℃/min
・ガスフロー：1000mL/min DSC DSC6200 ・温度範囲：-150〜725℃ ・DSC測定範囲：±100mW ・DSC感度：1.6μW
・プログラム速度：0.01〜100℃/min
・試料量：100μL（最大, オープン試料容器）, 15μL（最大, 密封試料容器）
動的光散乱（DLS） (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))
- メーカー名
- Malvern社 (Malvern)
- 型番
- Zetasizer Nano ZS
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径：0.6nm-6μm、ゼータ電位：5nm-10μm
・分子量：1000-2×107Da
・試料濃度：<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位：-200～200mV
・光学系：レーザードップラー法
接触角計 (Contact Angle Meter)
- メーカー名
- 協和界面科学社 (Kyowa Interface Science)
- 型番
- DM-501
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・最大試料寸法：150(W)×150(D)×35(T)mm・最大試料重量：400g
・使用環境温度：10～35℃
・カメラ・ディスペンサ上下可動範囲：（ステージ表面より）0mm～+35mm
・自動解析機能（解析手法：液滴法/拡張収縮法，解析方法：θ/2法/真円フィッティング法/楕円フィッティング法/接線法）
・オートディスペンサ搭載（自動液滴作成）
・経時変化測定可能（最大60 fps）
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布） (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・測定濃度範囲 ：0.001 % ～ 10 %
・ゼータ電位 ：-200 ～ 200 mV
・電気移動度 ：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s
・粒子径 ：0.6 nm ～ 7000 nm
・温度 ：10～90 ℃
・測定可能サンプル：微粒子分散液
・平板試料用セル（オプション）を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系：レーザードップラー法
低誘電率セル購入済み
小型微細形状測定機 (Surface profiler)
- メーカー名
- 小坂研究所 (Kosaka Laboratory)
- 型番
- ET200
- 設備画像
- 設置機関
- 名古屋大学
- 仕様・特徴
- ・最大サンプルサイズ：φ160×厚さ48mm
・再現性 ：1σ 1nm以内
・測定範囲 ：Z：600 µm，X：100mm
・分解能 ：Z：0.1 nm，X：0.1 µm
・測定力：10 µN〜500 µN