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高出力全自動水平型多目的X線回折装置 (Intelligent X-ray Diffraction System )

メーカー名
株式会社リガク (Rigaku Corporation)
型番
SmartLab 9SW
設備画像
高出力全自動水平型多目的X線回折装置
設置機関
東北大学
仕様・特徴
・最大出力 9 kW
・θ-θ型試料水平高精度ゴニオメータ
(-3°~160°、ゴニオ半径300 mm)
・インプレーンアーム 2θχ(-3°~120°)
・DSCユニット(室温~350 ℃)
・Cuターゲット

CHN有機微量元素分析装置 (C, H, N Elemental Analyzer)

メーカー名
J-SCIENCE LAB  (J-SCIENCE LAB )
型番
JM-11
設備画像
CHN有機微量元素分析装置
設置機関
東北大学
仕様・特徴
・測定方式:自己積分方式
・燃焼部の温度制御方式:ソリッドステートリレー制御によるPID制御(各炉の温度設定はパソコンから任意に可能)。
・恒温槽の温度制御方式:ソリッドステートリレー制御によるPID制御。
・検出器:熱伝導度検出方式、 60Ω 4素子タングステンフィラメント 3組を内臓。
・気圧補正:本体に内蔵し、コンピュータに自動入力。
・試料サンプラー:横型で最大20サンプルの自動運転。
・燃焼方式:ヘリウム酸素混合方式。

有機ハロゲン・硫黄分析装置 (Halogen and Sulfur Analyzer)

メーカー名
ヤナコテクニカルサイエンス (Yanaco)
型番
YHS-11
設備画像
有機ハロゲン・硫黄分析装置
設置機関
東北大学
仕様・特徴
・構成:試料導入装置(HAS-25)、試料燃焼ユニット(HNS-18)、燃焼ガス吸収ユニット(HSU-45)、イオンクロマトグラフ(ICA-2000)
・イオンクロマトグラフ部:電気伝導度検出器(ダイナミツクレンジ:512mS/m)、脱気装置と恒温槽ユニットが一体型

極限環境下電磁物性計測装置 (Physical Property Measurement System (PPMS))

メーカー名
日本カンタム・デザイン (Quantum Design Japan)
型番
PPMS-14LHattt
設備画像
極限環境下電磁物性計測装置
設置機関
東京大学
仕様・特徴
□ 主な仕様
・14 T超伝導マグネット
・温度制御 1.9K~400K
・試料空間 25.4mm
□主な用途
・電気輸送特性評価
・磁気特性評価
・熱輸送特性評価など

全自動元素分析装置 (CHNS/O Elemental Analyzer)

メーカー名
Perkin Elmer社 (PerkinElmer)
型番
2400Ⅱ CHNS/O
設備画像
全自動元素分析装置
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・サンプル量分析範囲 : ~500 mg(固体、液体)*目的元素含有量に依存
・C(0.001~3.6 mg)、H(0.001~1.0 mg)N(0.001~6.0 mg)、S(0.001~2.0 mg)
・測定方式: 静的燃焼、フロンタルクロマトグラフィー、TCD検出

熱重量測定装置群 (Thermogravimetric Analyzer)

メーカー名
SII社 (SII)
型番
TG TG/DTA6200 DSC DSC6200
設備画像
熱重量測定装置群
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
TG TG/DTA6200 ・重量測定:水平差動天秤方式
・試料量:200mg(最大)
・測定温度:室温〜1100℃
・昇温速度:0.01〜200.00℃/min
・ガスフロー:1000mL/min DSC DSC6200 ・温度範囲:-150〜725℃ ・DSC測定範囲:±100mW ・DSC感度:1.6μW
・プログラム速度:0.01〜100℃/min
・試料量:100μL(最大, オープン試料容器), 15μL(最大, 密封試料容器)

動的光散乱(DLS) (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))

メーカー名
Malvern社 (Malvern)
型番
Zetasizer Nano ZS
設備画像
動的光散乱(DLS)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径:0.6nm-6μm、ゼータ電位:5nm-10μm
・分子量:1000-2×107Da
・試料濃度:<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位:-200~200mV
・光学系:レーザードップラー法

接触角計 (Contact Angle Meter)

メーカー名
協和界面科学社 (Kyowa Interface Science)
型番
DM-501
設備画像
接触角計
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・最大試料寸法:150(W)×150(D)×35(T)mm・最大試料重量:400g
・使用環境温度:10~35℃
・カメラ・ディスペンサ上下可動範囲:(ステージ表面より)0mm~+35mm
・自動解析機能(解析手法:液滴法/拡張収縮法,解析方法:θ/2法/真円フィッティング法/楕円フィッティング法/接線法)
・オートディスペンサ搭載(自動液滴作成)
・経時変化測定可能(最大60 fps)

粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布) (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)

メーカー名
大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
型番
ELSZ-2
設備画像
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・測定濃度範囲 :0.001 % ~ 10 %
・ゼータ電位 :-200 ~ 200 mV
・電気移動度 :-20×10-4~20×10-4cm2/V・s
・粒子径 :0.6 nm ~ 7000 nm
・温度 :10~90 ℃
・測定可能サンプル:微粒子分散液
・平板試料用セル(オプション)を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系:レーザードップラー法

低誘電率セル購入済み

小型微細形状測定機 (Surface profiler)

メーカー名
小坂研究所 (Kosaka Laboratory)
型番
ET200
設備画像
小型微細形状測定機
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・最大サンプルサイズ:φ160×厚さ48mm
・再現性 :1σ 1nm以内
・測定範囲 :Z:600 µm,X:100mm
・分解能 :Z:0.1 nm,X:0.1 µm
・測定力:10 µN〜500 µN
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