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"電子材料評価"で検索した結果 2件
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超微小材料機械変形評価装置 (Nano-Indenter)
- 設備ID
- 設置機関
- 京都大学
- 設備画像
- メーカー名
- (株)エリオニクス (ELIONIX INC.)
- 型番
- ENT-2100
- 仕様・特徴
- 用途：圧子を微小荷重で試料に押込み、押込み深さを連続的に測定することで、試料表面の力学的特性を評価する装置。
・最大試料サイズ Φ50x t3.5mm
・荷重範囲 1μN～100ｍN
特型走査電子顕微鏡装置 (Scanning Electron Microscope)
- 設備ID
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM5600＋特型試料ステージ
- 仕様・特徴
- WフィラメントSEM。ピエゾ駆動探針装備。電気・機械特性測定、その場抵抗加熱可能。
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