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動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)

メーカー名
大塚電子 (Otsuka Electronics)
型番
DLS-8000HAL
設備画像
動的光散乱光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・粒径測定範囲:1.4nm~7µm
・重量平均分子量の測定範囲 :300~2×107 Mw
・光源:He-Neレーザー(632.8nm)、固体ブルーレーザー(488nm)
・検出器:光電子増倍管(フォトンカウンティング方式)
・セル:21φ円筒セル、12φ円筒セル、5φ微量セル
・セル室温度:5~90℃
・角度範囲:5 ~ 160°

粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布) (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)

メーカー名
大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
型番
ELSZ-2
設備画像
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布)
設置機関
名古屋大学
仕様・特徴
・測定濃度範囲 :0.001 % ~ 10 %
・ゼータ電位 :-200 ~ 200 mV
・電気移動度 :-20×10-4~20×10-4cm2/V・s
・粒子径 :0.6 nm ~ 7000 nm
・温度 :10~90 ℃
・測定可能サンプル:微粒子分散液
・平板試料用セル(オプション)を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系:レーザードップラー法

低誘電率セル購入済み

ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system)

メーカー名
大塚電子マルバーンマルバーン・パナリティカルGonotec Knauer (Otsuka Electronics Malvern InstrumentsMalvern PanalyticalGonotec Knauer)
型番
ELSZ-2,Nano ZSPZetasizer ProOSMOMAT 070Vapor Pressure Osmometer K-7000
設備画像
ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群
設置機関
九州大学
仕様・特徴
【ゼータ電位/粒径測定システム:ELSZ-2】
・粒子径測定範囲(0.6-7000nm)
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲:粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲:0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能

【Nano ZSP、Zetasizer Pro】
・粒子および分子径 3nm~10mm
・平行拡散、電気泳動移動度
・高濃度および低濃度での粒子のゼータ電位
・タンパク質およびポリマー溶液の濃度
・分子量、A2, kD
・ナノ粒子、コロイド、およびタンパク質の特性評価など。
・ポリマー溶液の粘度は10mPasまで測定可能
・ 粒子 / 分子径、絶対分子量、ゼータ電位
【蒸気圧式絶対分子量測定装置OSMOMAT 070】
・測定分子量:トルエン:50~50,000 Dalton (g/mol)
・純水:50~5,000 Dalton (g/mol)
【蒸気圧式分子量測定装置:Vapor Pressure Osmometer K-7000】
・ 測定分子量 水:< 10,000 g/mol, 有機溶媒:40-40,000 g/mol

ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー) (Zetasizer)

メーカー名
シスメックス株式会社(マルバーン) (SYSMEX CORPORATION (Malvern))
型番
NANO-ZS
設備画像
ナノ粒子解析装置(ゼーターサイザー)
設置機関
大阪大学
仕様・特徴
【特徴】
粉体試料の粒子径や、コロイド溶液・ナノ粒子のゼータ電位が測定可能な分析装置です。
希釈されたサンプルや、低濃度または高濃度サンプルにも対応可能です。
(濃度0.1ppm~40%/Wでの測定が可能)
【仕様】
必要試料量:70μL
粒子径測定:0.6nm~6μm(動的光散乱法)
ゼータ電位測定:3nm~10μm
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