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表面プラズモン共鳴装置 (Surface plasmon resonance (SPR) instrument)

メーカー名
サイティバ (Cytiva)
型番
Biacore X100
設備画像
表面プラズモン共鳴装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・非標識で分子間相互作用解析が可能。
・ベースラインノイズ:<0.1 RU (RMS)
・フローセル容量:0.06 µL
・データ取得間隔:1 Hz
・測定温度:25℃(固定)
・オートサンプラー:最大15サンプル

ゼータ電位計 (Zeta potential analyzer)

メーカー名
大塚電子 (Otsuka Electronics)
型番
ELSZ-1000Z
設備画像
ゼータ電位計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ゼータ電位測定範囲:-200~200mV
・光学系:レーザードップラー法
・光源:高出力・高安定化半導体レーザー
・セル:標準セル、微量ディスポセルもしくは平板用セル
・検出器:高感度APD
・温度:10 ~ 90℃

動的光散乱光度計 (Dynamic light scattering (DLS) spectrophotometer)

メーカー名
大塚電子 (Otsuka Electronics)
型番
DLS-8000HAL
設備画像
動的光散乱光度計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・粒径測定範囲:1.4nm~7µm
・重量平均分子量の測定範囲 :300~2×107 Mw
・光源:He-Neレーザー(632.8nm)、固体ブルーレーザー(488nm)
・検出器:光電子増倍管(フォトンカウンティング方式)
・セル:21φ円筒セル、12φ円筒セル、5φ微量セル
・セル室温度:5~90℃
・角度範囲:5 ~ 160°

粒度分布測定装置 (Particle size analyzer)

メーカー名
島津製作所 (Shimadzu)
型番
SALD-2100
設備画像
粒度分布測定装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・測定範囲:0.03µm~1000µm
・光源:680nm 半導体レーザー
・測定方式:湿式測定のみ(乾式測定不可)

接触角計 (Contact angle meter)

メーカー名
AST Products (AST Products)
型番
VCA Optima-XE
設備画像
接触角計
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・材料表面に液体を滴下して接触角を測定します。
・測定範囲:0~180°
・再現性:1°
・正確性::0.5°

テクスチャーアナライザー (Texture analyzer)

メーカー名
英弘精機 (EKO Instruments)
型番
TA-XT2i
設備画像
テクスチャーアナライザー
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ロードセル容量・分解能:50kg±1g、5kg±0.1g
・距離設定:0.1mm~250mm
・距離分解能:0.0025mm
・スピード設定:0.1mm/s~10mm/s
・測定モード:圧縮または引張による荷重測定または距離測定

酸素窒素水素分析装置、炭素硫黄分析装置 (Oxygen/Nitrogen/Hydrogen Analyzer Carbon/Sulfer Analyzer)

メーカー名
LECOジャパン合同会社 (LECO JAPAN CORPORATION)
型番
ONH836 CS844
設備画像
酸素窒素水素分析装置、炭素硫黄分析装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
酸素・窒素・水素解析部はインパルス加熱/赤外線検出方式及び熱伝導度検出方式である。
分析範囲:[酸素]10 ppm~3%,
[窒素]10 ppm~3%(試料重量1g時)
[水素]10 ppm~2500ppm(試料重量1g時)
炭素・硫黄解析部は高周波加熱炉/赤外線検出方式である。
分析範囲:[炭素]10 ppm~6%,
[硫黄]10 ppm~6%
(試料重量1g時)

顕微式自動膜厚測定システム (Automated Thin-Film Thickness Measurement System)

メーカー名
フィルメトリクス株式会社 (FILMETRICS)
型番
F54-XY-200-UV
設備画像
顕微式自動膜厚測定システム
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・用途:反射分光膜厚測定
・光源:重水素ハロゲンランプ
・波長:190-1100nm
・スポット径:10 um以下
・測定膜厚範囲:5nm以下~30um
・最大試料サイズ:φ8inch
・その他:自動マッピング、顕微式

自動エリプソメータ (Ellipsometer)

メーカー名
ファイブラボ (five Lab)
型番
MARY-102FM
設備画像
自動エリプソメータ
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・用途:絶縁膜形成評価
・光源:632nm He-Neレーザー
・ビーム径:0.8mm
・入射角:50°,60°,70°
・最大試料サイズ:φ6inch

触針式プロファイラ (Stylus Profiler)

メーカー名
ブルカージャパン (Bruker)
型番
Dektak XT-A
設備画像
触針式プロファイラ
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・用途:段差測定
・分解能:1Å(6.5umレンジ)
・走査距離:55mm
・触圧範囲:0.03-15mg
・最大試料サイズ:φ8inch
・ その他:自動ステージ、3Dマッピング、粗さ測定、ストレス測定
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