1. ホーム>
  2. 共用設備検索

共用設備検索結果

フリーワード検索

広空間・高分解能分析電子顕微鏡 (Analytical transmission electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM300F
設備画像
広空間・高分解能分析電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
金属・セラミックス試料の組成,化学状態,結晶方位等の局所分析およびマップ取得が可能.
・加速電圧:300kV, 200kV, 120kV, 80kV
・球面収差補正(イメージおよびプローブのダブルコレクタ)
・大口径EDS検出器(158mm2 x 2本)
・エネルギーフィルター(Gatan ContinuumER)
・プリセッション電子回折を用いた結晶方位測定システム(ASTAR)

微細組織3次元マルチスケール解析装置 (Orthogonal FIB-SEM)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
SMF-1000
設備画像
微細組織3次元マルチスケール解析装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
最高1nmピッチで制御可能で,加工と観察を繰り返すこと(シリアルセクショニング)で3D像再構築が可能.更にEBSDを併用した3D-EBSDやTEM試料作製も対応可能.
・SEM:ZEISS Gemini
・EDS:EDAX
・EBSD:EDAX TSL Hikari
・Ar-ion gun
・Depo. gas:Carbon

300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials)

メーカー名
日本電子 (JEOL )
型番
JEM-ARM300F
設備画像
300kV収差補正電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・加速電圧 60, 80, 300kV
・TEM非線形情報限界 60pm
・TEM格子分解能 50pm
・STEM空間分解能 58pm
・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載
・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr
・EELS エネルギー分解能0.7eV

単原子分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope)

メーカー名
日本エフイー・アイ (FEI)
型番
FEI Titan Cubed
設備画像
単原子分析電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・加速電圧80kV-300kV
・分解能70pm (300kV)
・エネルギー分解能80meV (80kV)
・ダブルコレクター
・モノクロメータ

TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置 (FIB-SEM combined apparatus for automatic preparation of TEM specimens)

メーカー名
日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
型番
NX5000
設備画像
TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・FIB: Ga液体金属イオン源、加速電圧0.5-30kV、分解能4nm (30kV)、最大ビーム電流100nA
・SEM: 冷陰極電界放射型電子銃、加速電圧0.1-30kV、分解能0.7nm (15kV)、最大ビーム電流10nA
・低加速Arイオンビーム:加速電圧0.5-2kV、最大ビーム電流20nA

冷陰極電界放出形ローレンツ電子顕微鏡 (Cold-FEG Lorentz microscope)

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
型番
HF-3000L
設備画像
冷陰極電界放出形ローレンツ電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・加速電圧:100-300kV
・液体窒素冷却
・水平磁場印加

冷陰極電界放出形電子顕微鏡 (Cold-FEG transmission electron microscope)

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation)
型番
HF-3000S
設備画像
冷陰極電界放出形電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・加速電圧:100-300kV
・分解能0.2nm (300kV)

実動環境対応物理分析電子顕微鏡 (Real working environment physical characterization TEM)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-G
設備画像
実動環境対応物理分析電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・ショットキーFEG
・加速電圧: 80, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-ARM200F-B
設備画像
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー

200kV電界放出形透過電子顕微鏡 (200kV field emission transmission electron microscope)

メーカー名
日本電子 (JEOL)
型番
JEM-2100F1
設備画像
200kV電界放出形透過電子顕微鏡
設置機関
物質・材料研究機構 (NIMS)
仕様・特徴
・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
スマートフォン用ページで見る