300kV透過電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月29日
| 設備ID | NR-202 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 300kV透過電子顕微鏡 (300kV Transmission Electron Microscope (TEM)) |
| 設置機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST) |
| 設置場所 | 奈良先端科学技術大学院大学物質棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-3100FEF |
| キーワード | 結晶構造解析 ナノ材料 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧： 300kV ・倍率： 100～2,000,000倍（分解能：0.19nm） ・オプション： クライオシステム 高温観察システム 動画観察システム トモグラフィ,三次元再構成システム 電子エネルギー損失分光 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NR-202 |
