データセット名：200kV電界放出形透過電子顕微鏡による金ナノ粒子標準試料観察
課題名：ナノ構造評価技術開発
データセット登録者（所属機関）：UESUGI,Fumihiko（NIMS）
- 課題番号：
- JPMXP1223NM2102
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
要約
JEOL製の支持膜GRIDに金を数秒間スパッタ蒸着して作製したSTEMコレクタ調整用の試料です。一定以上の高解像度を必要としない場合、汎用機である本機を用いることで簡便に各種の像やスペクトル等の取得が可能です。HRTEMだけでなく、SAED・NBD・CBEDの電子線回折、EDS やEELS分析、TomographyやSTEM DIFFRACTION MAPPINGの機能を利用出来ます。
キーワード・タグ
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データメトリックス
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データインデックス
- 登録日：
- 2024.11.20
- エンバーゴ解除日：
- 2024.10.31
- データセットID：
- 2ef48dba-0bd9-46d7-95da-6639c0d9fdc6
- データタイル数：
- 12
- ファイル数：
- 73
- ファイルサイズ：
- 553.16MB