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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-SH-052
分類 表面分析装置 > 走査型電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 > 電界放出型走査電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 走査電子顕微鏡(SEM)
設備名 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
(Field emission scanning electron microscope)
地域 中部
設置機関 信州大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

日立製 SU8000

加速電圧:0.5 ~ 30 kV
倍率:
 低倍率モード20 ~ 2,000倍
 高倍率モード100 ~ 800,000倍
分析機能:EDX付

S-SH-052

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