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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-SH-046
分類 透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
表面分析装置 > 電子エネルギー損失分光(EELS)
設備名 ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡(Cs-corrected TEM)
(Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
地域 中部
設置機関 信州大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

日本電子製  JEM-2100F

  • 球面収差補正装置:  EM-Z07167T  2段つき
  • 加速電圧:80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
  • 分析機能:EELS、EDS
S-SH-046

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