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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-OS-138
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 環境制御走査型プローブ顕微鏡
設備名 走査型プローブ顕微鏡
(Atomic Force Microscope (AFM))
地域 近畿
設置機関 大阪大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 北島 彰
仕様

株式会社日立ハイテクサイエンス
NanoNaviReal/E-sweep(磁場印加機構付)

  • 真空対応AFM・MFM・KFM・電流マッピング・SNDN
  • 加熱・冷却対応温度制御ステージ(-100℃~+100℃)装備
  • 3000ガウス以上の磁場が試料水平方向に印加可能
S-OS-138

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