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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-OS-126
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 環境制御走査型プローブ顕微鏡
設備名 環境制御型走査型プローブ顕微鏡システム
(Atomic Force Microscope (AFM))
地域 近畿
設置機関 大阪大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 北島 彰
仕様

株式会社日立ハイテクサイエンス
SPI3800N(NanoNavi II)/SPA-300HV

  • 真空度:~1.0E-5Pa
  • 分解能:0.3nm,
  • 試料温度:RT~300℃
  • 試料サイズ:max 1inch(液中観察はmax 1cm)
  • 液中観察、電気化学測定
S-OS-126

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