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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NU-122
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
表面分析装置 > その他表面分析
設備名 原子間力顕微鏡(AFM)
(Atomic Force Microscope (AFM))
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 工学研究科 助教  田浦大輔
仕様

Veeco Instruments製、Nanoscope IIIa

  • MMAFM型マルチモードSPMユニット
  • サンプルサイズ:15mmφ×6mm厚(最大)
  • 観察環境:大気中(標準機能)  
  • 水平分解能:1nm(タッピング・モードAFM)
  • スキャンサイズ:(水平軸走査範囲)0.4μm×0.4μm(AS-0.5)&10μm×10μm(AS-12), (垂直軸走査範囲)0.4μm(AS-0.5)&2.5μm(AS-12)
S-NU-122

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