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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NU-116
分類 X 線回折 > 粉末・薄膜 X 線回折(XRD)
設備名 カスタマイズXRD装置
(Middle and Wide Angle X-ray Diffractometer with Multi Functional Sample Stages )
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 工学研究科 准教授 永野修作
仕様

カスタマイズXRD装置(基本X線散乱装置FR-E, Rigaku、ミクロトームによる断面切削)

  • 高輝度X線源を元に、粉末、溶液、薄膜の小角領域までの測定が可能
  • 斜入射散乱(GI-SAXS、GI-WAXS)測定
  • 温度制御(0 ~ 200 ℃, 200℃以上も要相談で対応可能)、光照射(水銀ランプ)
S-NU-116

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