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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NU-115
分類 分光 > 薄膜用紫外〜赤外反射
設備名 高分子ナノ薄膜の内部構造・配向構造評価(紫外可視吸収分光装置/光学アタッチメント)
(UV-VIS Spectrophotometer with a polarizer and multi-angle sample stage)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 工学研究科 准教授 永野修作
仕様

Agilent製、8453

  • 薄膜 (5 ~ 250 ℃から)、溶液(0 ~ 100 ℃)のスペクトル測定が可能
  • 偏光吸収スペクトル、基板の回転アタッチメントにより分子・高分子膜の配向評価
  • 要相談(チルト測定)
S-NU-115

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