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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NU-114
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
表面分析装置 > その他表面分析
設備名 薄膜表面観察(原子間力顕微鏡)
(Atomic Force Microscope)
地域 中部
設置機関 名古屋大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 工学研究科 准教授 永野修作
仕様

Asylum製、MFP-3D

  • 高性能AFM (分解能: 0.2nm 垂直: 0.01nm) 
  • コンタクト・タッピング (要相談:摩擦力、粘弾性モード)
  • 温度可変観察(~130℃)
    (要相談:液中、真空中、高温、極低温、光照射下)
S-NU-114

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