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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NI-120
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
設備名 精密形状測定・局所磁気測定・局所電気特性評価装置
(Specialized AFM (Atomic Force Microscope) System Equipped with Carbon Nanofiber Probe for Precise Morphological, Magnetic, and Electrical Property Measurements)
地域 中部
設置機関 名古屋工業大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 種村 眞幸
仕様

日本電子(JEOL)、JSPM-5200TM  特型

  • 分解能:原子分解能
  • CNF探針装備
  • 測定モード:形状、電気特性、磁気特性測定
S-NI-120

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