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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-NI-106
分類 透過電子顕微鏡 > 分析電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
設備名 原子分解能分析電子顕微鏡
(Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope )
地域 中部
設置機関 名古屋工業大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 種村 眞幸
仕様

日本電子(株)製  ARM200F

  • 分解能(TEM格子像):0.1nm
  • 分解能(STEM明視野格子像):0.136nm
  • 加速電圧:80~200kV,電子銃:W CFエミッタ
  • EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
S-NI-106

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