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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-MS-113
分類 表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
設備名 蛍光X線分析
(X-Ray Fluorescence Analysis)
地域 中部
設置機関 分子科学研究所
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者 解良聡 機器センター長
上田正 技術職員
仕様

JEOL JSX-3400RII

・検出元素範囲 Na-U
・X線発生装置 5-50kV, 1mA, 50W
・ターゲット Rh
・フィルタ 4種自動交換(オープン含む)
・コリメータ 1mmφ, 3mmφ, 7mmφ

高感度・高分解能 Si (Li) 半導体検出器を搭載している。
1mmφのコリメータによって微小異物もCCDカメラで観察しながら試料の分析ができる。
分析結果報告書作成ソフトによって、報告書が容易に作成可能。

S-MS-113

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