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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-KU-158
分類 表面分析装置 > 走査型電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 > 電界放出型走査電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 走査電子顕微鏡(SEM)
設備名 走査型電子顕微鏡 
(Scanning Electron Microscope)
地域 九州・沖縄
設置機関 九州大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

日立社製 S-5000

分解能:1.5nm(15kV)、5.0nm(1kV) 
倍率:20~1000,000倍 
試料サイズ:最大10mm 
加圧電圧:0.5kV~30kV

S-KU-158

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