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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-JI-085
分類 走査型プローブ顕微鏡 > 原子間力顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 走査プローブ顕微鏡(SPM)
設備名 大気中原子間力顕微鏡・AFM
(AFM (Atomic Force Microscope))
地域 中部
設置機関 北陸先端科学技術大学院大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

SII社製 SPI3800N/SPA-400

  • 測定方式:光てこ方式
  • 試料サイズ:最大直径35mmφ 最大厚み10mm
  • 走査範囲:20μm
S-JI-085

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