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研究設備詳細情報

事業名 ナノテクノロジープラットフォーム
機器ID S-JI-067
分類 透過電子顕微鏡 > 電界放出型透過電子顕微鏡
透過電子顕微鏡 > 収差補正透過電子顕微鏡
走査電子顕微鏡 > 電界放出型走査電子顕微鏡
形状・形態観察、分析 > 透過電子顕微鏡(TEM)
表面分析装置 > エネルギー分散型蛍光X線分光(EDS)
設備名 原子分解能走査透過型電子顕微鏡・STEM
(STEM (Scanning Transmission Electron Microscope))
地域 中部
設置機関 北陸先端科学技術大学院大学
研究分野 分子・物質合成
担当部署または担当者
仕様

日本電子社製 JEM-ARM200F 

  • 加速電圧:200 kV
  • 電子銃  ショットキー型電界放出銃
  • 分解能:
      0.08 nm(走査透過像)
      0.19 nm(透過顕微鏡  粒子像)
      0.10 nm(透過顕微鏡  格子像)                    
  • EDSによる組成分析機能付
  • 照射系収差補正装置:組み込み
S-JI-067

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